Quantitative X-Ray Diffractometry / ZEVIN, Lev., S.

Titre : Quantitative X-Ray Diffractometry Type de document : texte imprimé Auteurs : ZEVIN, Lev., S. ; Giora KIMMEL Editeur : Springer Verlag Année de publication : 1995 Importance : 372 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-387-94541-5 Note générale : Preface Acknowledgements Contents References Index Catégories : Rayons X Rayons X:Diffraction Rayons X:Diffraction:Applications industrielles Index. décimale : 539.72 Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques Résumé : Introduction Physical Basic Geometric Aspects of X-Ray Diffractometry Methodology of Quantitative Phase Analysis Practical Aspects of Quantitative Phase Analysis Industrial Applications

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Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00004428	539.72 ZEV	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	500 - Sciences - Mathématiques	Disponible

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