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2. Practical Electron Microscopy in Materials Science / J.W. EDINGTON
Titre : Practical Electron Microscopy in Materials Science : Electron Diffraction in the Electron Microscope Type de document : texte imprimé Auteurs : J.W. EDINGTON Editeur : Philip's Technical Library Année de publication : 1975 Collection : Monographs in Practical Electron Microscopy in Materials Science Importance : 122 p. Note générale : Preface
Acknowledgements
Contents
AppendixCatégories : Electrons
Electrons:Diffraction
Microscopie électroniqueIndex. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : INTRODUCTION TO ELECTRON DIFFRACTION
A geometrical approach to electron diffraction from a crystalline specimen
A quantitative approach to diffraction from a crystalline specimen
The reciprocal lattice and transmission electron diffraction in the electron microscope
ELECTRON DIFFRACTION PATTERNS IN THE ELECTRON MICROSCOPE
Types of diffraction patterns
Indexing diffraction patterns
Uniqueness in indexing diffraction patterns
USES OF DIFFRACTION PATTERNS FROM SINGLE CRYSTALS : THE BASIC DIFFRACTION PATTERN
Specimen tilting experiments
Orientation relationship determination
Twinning
Second phases
Crystallographic information
USES OF DIFFRACTION PATTERNS FROM SINGLE CRYSTALS : THE FINE STRUCTURE IN THE PATTERN
Extra spots
Spot splitting and satellite spots
Streaks
Diffuse scattering effectsExemplaires (2)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00006239 621.361 EDI Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Sorti jusqu'au 15/05/2026 B00006245 621.361 EDI Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Disponible 3. Practical Electron Microscopy in Materials Science / EDDINGTON, J., W.
Titre : Practical Electron Microscopy in Materials Science : Interpretation of Transmission Electron Micrographs Type de document : texte imprimé Auteurs : EDDINGTON, J., W. Editeur : Macmillan Company, Ltd Année de publication : 1975 Collection : Monographs in Practical Electron Microscopy in Materials Science Importance : 111 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-333-18575-9 Note générale : Preface
Contents
Recommended Reading
References
AppendicesCatégories : Electrons
Electrons:Diffraction
Microscopie électroniqueIndex. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00006249 621.361 EDI Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Sorti jusqu'au 15/05/2026 Electron Diffraction / R BEECHING
Titre : Electron Diffraction Type de document : texte imprimé Auteurs : R BEECHING ; G. P. THOMPSON Mention d'édition : Third edition Editeur : John Wiley & Sons, Inc. Année de publication : 1950 Importance : 107 p. Note générale : Preface
Contents
Subject index
Name indexCatégories : Electrons
Electrons:DiffractionIndex. décimale : 539.7 Physique atomique et nucléaire Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00003574 539.7 BEE Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 500 - Sciences - Mathématiques Disponible Electron Microscopy of Thin Crystals / HIRSCH, P., B.
Titre : Electron Microscopy of Thin Crystals Type de document : texte imprimé Auteurs : HIRSCH, P., B. ; A. HOWIE ; NICHOLSON, R., B. ; PASHLEY, D., W. ; WHELAN, M., J. Editeur : Butterworths & Co. (Publishers), Ltd. Année de publication : 1965 Importance : 549 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-408-18550-9 Note générale : Contents
Preface
Appendices
Author Index
Subject IndexCatégories : Cristallographie
Electrons
Electrons:Diffraction
Microscopie électroniqueIndex. décimale : 548 Cristallographie Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00004539 548 HIR Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 500 - Sciences - Mathématiques Disponible Interpretation of Electron Diffraction Patterns / ANDREWS, K., W.
Titre : Interpretation of Electron Diffraction Patterns Type de document : texte imprimé Auteurs : ANDREWS, K., W. ; DYSON, D., J. ; KEOWN, S., R. Mention d'édition : 2nd impression Editeur : Adam Hilger, Ltd Année de publication : 1968 Importance : 188 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-85274-120-7 Note générale : Preface
Contents
Stereogrpahic Projections
Tables
Important Notes
Symbols and Abbreviations
Introduction
Appendix A : Simple Stereographic Plotting Table
References
IndexCatégories : Cristallographie
Cristallographie:Tables
Electrons
Electrons:DiffractionIndex. décimale : 548 Cristallographie Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00006250 548 AND Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 500 - Sciences - Mathématiques Disponible The Physical Examination of Metals / Bruce CHALMERS
Titre : The Physical Examination of Metals Type de document : texte imprimé Auteurs : Bruce CHALMERS, Auteur ; A. G. QUARRELL, Auteur Mention d'édition : Second edition Editeur : Edward Arnold (Publishers) Ltd Année de publication : 1960 Importance : 917 p. Note générale : Contents
Preface
Author Index
Subject IndexCatégories : Electrons:Diffraction
Magnétisme
Métallographie
Métaux:Essais
Rayons X:DiffractionIndex. décimale : 669.95 Métallographie Résumé : Optical Methods
Electriczl Measurements
Thermal Methods
Magnetic Analysis
X-ray Diffraction
Electron Diffraction
Neutron Diffraction
Electron Metallography
Radiation Methods
The Damping Capacity of Metals
Measurements of Elastcicity using Mechanical Waves
Ultrasonic Flaw Detection
Ferrographic Method of Flaw Detection
Magnetic Induction Methods of Non-destructive Testing
Measurement of Coating Thickness by Magnetic Methods
Radioactive Isotopes and Their Applications in Metal-Lurgy
Microradiography and Autoradiography
Modern Vacuum TechniquesExemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00011159 669.95 CHA Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Disponible Traité des matériaux : 3., Caractérisation expérimentale des matériaux vol. 2 / Jean-Luc MARTIN
Titre : Traité des matériaux : 3., Caractérisation expérimentale des matériaux vol. 2 Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Luc MARTIN ; Armand GEORGE Editeur : Presses Polytechniques et Universitaires Romandes (PPUR) Année de publication : 1998 Importance : 367 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-88074-364-2 Note générale : Présentation du Traité des matériaux
Avant-propos
Annexes
Liste des symboles
Index
Biographie des auteursCatégories : Electrons
Electrons:Diffraction
Electrons:Diffusion
Matériaux
Matériaux:Analyse
Microanalyse par émission X
Microstructure (physique)
Neutrons
Neutrons:Diffraction
Neutrons:Diffusion
Rayons X
Rayons X:Diffraction
Rayons X:DiffusionIndex. décimale : 620.1 Mécanique de l'ingénieur (mécanique appliquée) et matériaux Résumé : PHYSIQUE DES INTERACTIONS RAYONNEMENT-MATIERE
Généralités sur les interactions rayonnement-matière
Diffusion cohérente des rayonnements par les cristaux
Propagation d'ondes dans les cristaux
CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR RAYONS X
Sources de rayons X, conditionnement et analyse des rayons X
Méthodes de caractérisation structurale par diffusion et diffraction des rayons X
Topographie aux rayons X
CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR FAISCEAUX D'ELECTRONS
Microscope électronique à transmission
Informations fournies par le microscope électronique à transmission
Microscopeélectronique à balayage
Microanalyse par faisceaux d'électrons
CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR FAISCEAUX DE NEUTRONS
Diffusion et diffraction des neutrons
EXEMPLE DE CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR RAYONS X ET ELECTRONS
Etude de la microstructure d'un revêtement réalisé par projection thermiqueExemplaires (4)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00006532 620.1 MAR Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Disponible B00004914 620.1 MAR Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Sorti jusqu'au 15/05/2026 B00007712 620.1 MAR Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Disponible B00007718 620.1 MAR Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Disponible