2. Practical Electron Microscopy in Materials Science / J.W. EDINGTON

Titre : Practical Electron Microscopy in Materials Science : Electron Diffraction in the Electron Microscope Type de document : texte imprimé Auteurs : J.W. EDINGTON Editeur : Philip's Technical Library Année de publication : 1975 Collection : Monographs in Practical Electron Microscopy in Materials Science Importance : 122 p. Note générale : Preface Acknowledgements Contents Appendix Catégories : Electrons Electrons:Diffraction Microscopie électronique Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : INTRODUCTION TO ELECTRON DIFFRACTION A geometrical approach to electron diffraction from a crystalline specimen A quantitative approach to diffraction from a crystalline specimen The reciprocal lattice and transmission electron diffraction in the electron microscope ELECTRON DIFFRACTION PATTERNS IN THE ELECTRON MICROSCOPE Types of diffraction patterns Indexing diffraction patterns Uniqueness in indexing diffraction patterns USES OF DIFFRACTION PATTERNS FROM SINGLE CRYSTALS : THE BASIC DIFFRACTION PATTERN Specimen tilting experiments Orientation relationship determination Twinning Second phases Crystallographic information USES OF DIFFRACTION PATTERNS FROM SINGLE CRYSTALS : THE FINE STRUCTURE IN THE PATTERN Extra spots Spot splitting and satellite spots Streaks Diffuse scattering effects

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3. Practical Electron Microscopy in Materials Science / EDDINGTON, J., W.

Titre : Practical Electron Microscopy in Materials Science : Interpretation of Transmission Electron Micrographs Type de document : texte imprimé Auteurs : EDDINGTON, J., W. Editeur : Macmillan Company, Ltd Année de publication : 1975 Collection : Monographs in Practical Electron Microscopy in Materials Science Importance : 111 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-333-18575-9 Note générale : Preface Contents Recommended Reading References Appendices Catégories : Electrons Electrons:Diffraction Microscopie électronique Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle

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5. Practical Electron Microscopy in Materials Science / THOMSON-RUSSELL, K., C.

Titre : Practical Electron Microscopy in Materials Science : Specimen Preparation Techniques Type de document : texte imprimé Auteurs : THOMSON-RUSSELL, K., C. ; EDDINGTON, J., W. Editeur : Macmillan Company, Ltd Année de publication : 1977 Collection : Monographs in Practical Electron Microscopy in Materials Science num. 5 Importance : 136 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-333-21980-5 Note générale : Contents Preface Acknowledgements Index Catégories : Microscopie électronique Microscopie électronique:Technique Science des matériaux Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle

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Computed Tomography / Jiang HSIEH

Titre : Computed Tomography : Principles, Design, Artifacts, and Recent Advances Type de document : texte imprimé Auteurs : Jiang HSIEH, Auteur Mention d'édition : 2nd ed. Editeur : Bellingham : SPIE press Année de publication : 2009 Importance : 556 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-8194-7533-6 Note générale : Contents Preface Introduction Glossary Index Langues : Anglais (eng) Catégories : Tomographie Tomographie (mathématiques) Traitement d'images Traitement d'images:Techniques numériques Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : Introduction Preliminaries Image Reconstruction Image Presentation Key Performance Parameters of the CT Scanner Major Components of the CT Scanner References. Image Artifacts: Appearances, Causes, and Corrections Computer Simulation Analysis Helical or Spiral CT Miltislice CT X-ray Radiation and Dose-Reduction Techniques Advanced CT Applications

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Cone Beam Computed Tomography / Chris, C. SHAW

Titre : Cone Beam Computed Tomography Type de document : texte imprimé Auteurs : Chris, C. SHAW, Auteur Editeur : CRC Press, Inc. Année de publication : 2014 Importance : 251 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-1-4398-4626-1 Note générale : Contents Series Preface Acknowledgments Editor Contributors Index Catégories : Imagerie médicale Rayons X Tomographie Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : FUNDAMENTAL PRINCIPLES AND TECHNIQUES History of x-ray Computed Tomography Acquisition of Projection Images Reconstruction Algorithms Cone-Beam CT Image Quality Radiation Dose ADVANCED TECHNIQUES Image Simulation 3D Image Processing, Analysis, and Visualization Volume-of-Interest Imaging Four-Dimensional Cone Beam Computed Tomography Image Corrections for Scattered Radiation APPLICATIONS Multidetector Row CT Cone Beam Micro-CT for Small-Animal Research Cardiac Imaging C-arm CT in the Interventional Suite : Current Status and Future Directions Cone Beam CT : Transforming Radiation Treatment Guidance, Planning, and Monitoring Breast CT

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First Annual Conference of International Digital Imaging Correlation Society DIC, Philadelphia, November 7-10, 2016 / Michael SUTTON

Titre : First Annual Conference of International Digital Imaging Correlation Society DIC, Philadelphia, November 7-10, 2016 Type de document : symposium Auteurs : Michael SUTTON ; Phillip, L. REU Editeur : Springer Verlag Année de publication : 2017 Importance : 283 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-3-319-51438-3 Note générale : Preface Contents Catégories : Reconnaissance optique des formes (informatique) Spectroscopie Traitement d'images Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : /

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Image Correlation for Shape, Motion and Deformation Measurements : basic concepts, theory and applications / Jean-José ORTEU

Titre : Image Correlation for Shape, Motion and Deformation Measurements : basic concepts, theory and applications Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-José ORTEU, Auteur ; Michael A. SUTTON, Auteur ; Hubert W. SCHREIER, Auteur Editeur : Springer Verlag Année de publication : 2009 Importance : 321 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-387-78746-6 Note générale : Preface Acknowledgements Overview Contents Appendices References Index Catégories : Mesures optiques Reconnaissance optique des formes (informatique) Traitement d'images Traitement optique de l'information Vision par ordinateur Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : Introduction Elements of geometrical optics Single camera models and calibration procedurs in computer vision Two-dimensional and three-dimensional computer vision Digital Image Correlation (DIC) In-plane measurements Stereo-vision system application Volumetric Digital Image Correlation (VDIC) Error estimation in stereo-vision Practical considerations for accurate measurements with DIC

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Méthodes et techniques nouvelles d'observation en métallurgie physique / Bernard JOUFFREY

Titre : Méthodes et techniques nouvelles d'observation en métallurgie physique Type de document : texte imprimé Auteurs : Bernard JOUFFREY, Éditeur scientifique Editeur : Société Française de Microscopie Electronique Année de publication : 1972 Importance : 546 p. Note générale : Préface Introduction Liste des auteurs Sommaire Annexes Index des matières Catégories : Métallographie électronique Metallurgie physique Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : Préparation des échantillons Les accessoires. Caractéristiques. Emploi Diverses approximations en théorie du comportement des électrons de 100 kV dans la matière Diffraction des électrons par les cristaux et image. Théorie cinématique Théorie dynamique pour les cristaux parfaits (Traitement d'optique ondulatoire) Théorie dynamique de la diffraction des électrons dans un cristal parfait. Traitement à partir de la mécanique quantique Traitement phénoménologique de l'absorption Géométrie des défauts de structure Contraste des défauts par la théorie cinématique Tratement dynamique des défauts Défauts plans Structure fine des taches de diffraction Alliages ordonnés Contraste des images de dislocations en microscopie électronique Contraste des petits défauts Application de la microscopie électronique à l'étude des précipités Contraste des inclusions Microscopie électronique disperse à l'aide de prismes magnétiques Eclairement de l'objet et techniques de contraste en microscopie électronique. Strioscopies. Contraste de phase Microscopie à haute tension L'optique géométrique et ondulatoire en microscopie de Lorentz Quelques applications de la microanalyse par émission ionique secondaire Utilisation de la microscopie à émission d'ions pour l'étude de très petits défauts cristallins La méthode de Lang Microsonde et microscope à balayage

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Microanalyse par sonde électronique :aspects quantiatifs. Paris 1989 / D. BENOIT

Titre : Microanalyse par sonde électronique :aspects quantiatifs. Paris 1989 Type de document : symposium Auteurs : D. BENOIT, Éditeur scientifique ; G. BRAUKT, Éditeur scientifique ; J.-F. BRESSE, Éditeur scientifique ; F. GRILLON, Éditeur scientifique ; F. MAURICE, Éditeur scientifique ; J.-L. POUCHOU, Éditeur scientifique ; J. RUSTE, Éditeur scientifique Editeur : Les Editions de Physique Année de publication : 1989 Importance : n. p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-900195-14-7 Note générale : Introduction Liste des auteurs Sommaire Glossaire des symboles et notations Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : /

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Microanalyse par sonde électronique : spectrométrie de rayons X. Paris 1987 / D. BENOIT

Titre : Microanalyse par sonde électronique : spectrométrie de rayons X. Paris 1987 Type de document : symposium Auteurs : D. BENOIT, Éditeur scientifique ; F. GRILLON, Éditeur scientifique ; F. MAURICE, Éditeur scientifique ; N. ROINEL, Éditeur scientifique ; J. RUSTE, Éditeur scientifique ; R. TIXIER, Éditeur scientifique Editeur : Les Editions de Physique Année de publication : 1987 Importance : n. p. ISBN/ISSN/EAN : 2-900-195-II-X Note générale : Introduction Liste des auteurs Sommaire Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : /

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Pratique du microscope électronique à balayage. Paris 1985 / D. BENOIT

Titre : Pratique du microscope électronique à balayage. Paris 1985 Type de document : symposium Auteurs : D. BENOIT, Éditeur scientifique ; J.-F. BRESSE, Éditeur scientifique ; F. GRILLON, Éditeur scientifique ; F. MAURICE, Éditeur scientifique ; L. MENY, Éditeur scientifique ; J.-L. POUCHOU, Éditeur scientifique ; N. ROINEL, Éditeur scientifique ; J. RUSTE, Éditeur scientifique Editeur : Les Editions de Physique Année de publication : 1985 Importance : n. p. ISBN/ISSN/EAN : 2-950-195-07-1 Note générale : Introduction Liste des auteurs Sommaire Bibliographie générale Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : /

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Quantitative Molecular Spectroscopy and Gas Emissivities / S., S. PENNER

Titre : Quantitative Molecular Spectroscopy and Gas Emissivities Type de document : texte imprimé Auteurs : S., S. PENNER Editeur : Addison-Wesley Publishing Company, Inc. Année de publication : 1959 Importance : 587 p. Note générale : Preface Contents Appendix : Evaluation of Band Emissivities Author Index Subject Index Catégories : Chaleur Rayonnement thermique Rayonnements Spectroscopie Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : Thermal radiation Einstein coefficients and intensities Spectral line profiles Radiation from isolated spectral lines Measurement of transmissivity and absorptivity for isolated spectral lines Experimental determinations of absolute intensities for gases Theoretical calculations of absolute and relative intensities for atomic and molecular spectral lines Experimental measurements of dispersion half-widths in infrared vibration-rotation spectra Direct line-width measurements in infrared vibration-rotation bands Optical dispersion Theoretical calculation of equilibrium infrared gas emissivities at moderate temperatures Theoretical calculations of isothermal gas absorptivities for balckbody radiation ; limits of validity of effective bandwidth estimates The mathematical formulation of radiative transfer problems for noniniform gases in terms of derivatives of hemispherical emissivities The emissivity of heated air Emissivity estimates for hydrogen atoms Optical techniques for the determination of flame temperatures Population temperatures and translational temperatures for free radicals in flames Mass absorption coefficeint of powder gases and the effect of radiation on the burning rate of solid propellants Approximate estimates of radiant-heat transfer and temperature changes for propellants in liquid-fuel rocket motors

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Spectroscopie atomique et moléculaire : 2., Spectroscopie moléculaire / P. BARCHEWITZ

Titre : Spectroscopie atomique et moléculaire : 2., Spectroscopie moléculaire Type de document : texte imprimé Auteurs : P. BARCHEWITZ Editeur : Masson Année de publication : 1971 Importance : 305 p. Note générale : Avant-propos Index alphabétique Ouvrage recommandés Table des matières Catégories : Spectroscopie atomique Spectroscopie moléculaire Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : ENERGIES ET FONCTIONS D'ETAT Symétrie moléculaire. Théorie des groupes Hamiltonien moléculaire Rotation moléculaire Vibrations moléculaires Vibration-rotation moléculaire TYPES DE SYMETRIE DES FONCTIONS D'ETAT. REGLES DE SELECTION. INTENSITE Propriétés de symétrie des fonctions d'état vibrationnelles Propriétés et types de symétrie des fonctions rotationnelles Propriétés et types de symétrie des niveaux rovibrationnels Règles de sélection. Spectres Intensité des raies ELECTRONIQUE Molécule diatomique à un seul électron Molécule diatomique à un plusieurs électrons Equation de Schrodinger d'une molécule diatomique

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The Mathematics of Computerized Tomography / F. NATTERER

Titre : The Mathematics of Computerized Tomography Type de document : texte imprimé Auteurs : F. NATTERER Mention d'édition : reprinted ed. Editeur : John Wiley & Sons, Inc. Année de publication : 1989 Importance : 222 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-471-90959-0 Note générale : Contents Preface Glossary of Symbols References Index Catégories : Algorithmes Imagerie (technique) Tomographie (mathématiques) Traitement d'images Traitement d'images:Techniques numériques Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : Computerized tomography The Radon transform and related transforms Sampling and resolution Ill-posedness and accuracy Reconstruction algorithms Incomplete data Mathematical tools

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The Mathematics of Computerized Tomography / F. NATTERER

Titre : The Mathematics of Computerized Tomography Type de document : texte imprimé Auteurs : F. NATTERER Mention d'édition : reprinted ed. Editeur : John Wiley & Sons, Inc. Année de publication : 2001 Collection : In applied Mathematics num. 32 Importance : 222 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-89871-493-7 Note générale : Contents Preface Glossary of Symbols Errata References Index Catégories : Algorithmes Imagerie (technique) Tomographie (mathématiques) Traitement d'images Traitement d'images:Techniques numériques Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : Computerized tomography The Radon transform and related transforms Sampling and resolution Ill-posedness and accuracy Reconstruction algorithms Incomplete data Mathematical tools

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VIII. Le spectre infrarouge et ses applications dans les sciences naturelles et biologiques / Jean LECOMTE

Titre : Le spectre infrarouge et ses applications dans les sciences naturelles et biologiques Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean LECOMTE Editeur : Hermann et Cie Année de publication : 1943 Collection : Actualités scientifiques et industrielles 972 bibliothèque de la société philomathique de Paris Importance : 58 p. Catégories : Biologie Rayonnement infrarouge Spectroscopie Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : /

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Worked Examples in Stereographic Projection / MOON, J., R.

Titre : Worked Examples in Stereographic Projection Type de document : texte imprimé Auteurs : MOON, J., R. Editeur : The Institution of Metallurgists Année de publication : 1978 Importance : 99 p. Note générale : Some Useful Books Appendices Catégories : Cristallographie Géométrie projective Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : /

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