Etude multiéchelle des composites par tomographie de rayons X / Qihan SHI

Titre : Etude multiéchelle des composites par tomographie de rayons X Type de document : thèse Auteurs : Qihan SHI, Auteur ; Claude BATHIAS, Directeur de thèse ; Jinbo BAI, Rapporteur ; Jacques RENARD, Rapporteur ; Renaud CAPLAIN, Examinateur ; P. HEUILLET, Examinateur ; Dawei LAI, Examinateur ; Hua TAO, Examinateur Année de publication : 2003 Importance : 145 p. Note générale : NNT 2003CNAM0490 Remerciements Table des matières Introduction Conclusions Bibliographie Catégories : Cristallisation Détection de défaut (ingénierie) Endommagement, Mécanique de l' (milieux continus) Matériaux:Fluage Rupture, Mécanique de la Résumé : ETUDE BIBLIOGRAPHIQUE Théorie fondamentale de tomographie de rayons X Appareillage de la tomographie de rayons X Post-traitement des images brutes et visualisations Conclusion partielle RESULTATS EXPERIMENTAUX Etude de l'endommagement des composites plastiques en bois Etude du comportement et de l'endommagement des caoutchoucs Conclusion partielle DISCUSSION Précision des mesures et images obtenues Détection desdéfauts Détection d'endommagement Etude des compositions chimiques Conclusion partielle CONCLUSION

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Méthodes usuelles de caractérisation des surfaces / Daniel DAVID

Titre : Méthodes usuelles de caractérisation des surfaces Type de document : texte imprimé Auteurs : Daniel DAVID ; Renaud CAPLAIN Editeur : Eyrolles Année de publication : 1988 Importance : 374 p. Catégories : Anticorrosifs Métallisation Métallographie Métallurgie Métaux Métaux:Revêtements protecteurs Métaux:Traitement thermique Surfaces (physique) Surfaces (technologie) Traitements de surface Index. décimale : 669.9 Métallurgie physique et chimique Résumé : LES SURFACES EN METALLURGIE La notion de surface Propriétés intrinsèques et fonctionnelles des surfaces Préparations et traitements LES METHODES PHYSICOCHIMIQUES Méthodes classiques : microsonde électronique, analyse X dispersive en énergie Spectroscopie de photoélectrons (ESCA) Spectroscopie d'électrons AUGER Spectroscopie de masse des ions secondaires (SIMS) Spectroscopie à décharge luminescente (SDL) La spectroscopie Ramn. Application aux études de corrosion Méthodes électrochimiques Microanalyse nucléaire Ellipsométrie La microsonde à impact laser (LAMMA) Revue critique LES METHODES STRUCTURALES ET MECANIQUES Microscopie optique Diffraction X Microscopie électronique à balayage et diffraction électronique en réflexion Microscopie électronique en transmission et diffraction des électrons La microscopie électronique à photoémission Méthodes LEEDS et RHEED Mesures des contraintes Microgéométrie et rugosimétrie Mesure des surfaces spécifiques Mesure d'adhérence PERSPECTIVES DE L'ANALYSE DES SURFACES Caractérisation mécanique Approche fractale des surfaces et implications analytiques Le microscope à effet tunnel Conclusion

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