Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, électrons et neutrons. Spectrométrie des rayons X, électrons et ions. Microscopie électronique / Jean-Pierre EBERHART

Titre : Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, électrons et neutrons. Spectrométrie des rayons X, électrons et ions. Microscopie électronique Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Pierre EBERHART Editeur : Dunod Année de publication : 1997 Importance : 614 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-10-003367-6 Note générale : Table des matières Introduction Appendice Références bibliographiques Index Catégories : Cristallographie Matériaux Radiocristallographie Rayons X Rayons X:Diffraction Spectroscopie Index. décimale : 620.19 Autres matériaux

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B00004915	620.19 EBE	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Sorti jusqu'au 15/05/2026

Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, électrons et neutrons. Spectrométrie des rayons X, électrons et ions. Microscopie électronique / Jean-Pierre EBERHART

Titre : Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, électrons et neutrons. Spectrométrie des rayons X, électrons et ions. Microscopie électronique Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Pierre EBERHART Editeur : Dunod Année de publication : 1989 Importance : 614 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-04-018797-2 Note générale : Avant-propos Table des matières Introduction Appendices Références bibliographiques Index alphabétique Catégories : Cristallographie Electrons Microscopie électronique Radiocristallographie Rayons X Rayons X:Diffraction Spectroscopie Surfaces (technologie) Index. décimale : 620.11 Matériaux (propriétés, résistance)

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B00006343	620.11 EBE	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Sorti jusqu'au 15/05/2026

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