10. Defect and Microstructure Analysis by Diffraction / Robert L. SNYDER

Titre : Defect and Microstructure Analysis by Diffraction Type de document : texte imprimé Auteurs : Robert L. SNYDER ; Jaroslav FIALA ; Hans J. BUNGE Editeur : Oxford University Press Année de publication : 1999 Collection : International Union of Cristallography Book Series Importance : 785 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-19-850189-3 Note générale : Preface Contents Contributors Abbreviations Introduction References Index Catégories : Cristallographie Index. décimale : 548 Cristallographie

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Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00004924	548 SNY	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	500 - Sciences - Mathématiques	Disponible

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