| Titre : |
Méthodes et techniques nouvelles d'observation en métallurgie physique |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Bernard JOUFFREY, Éditeur scientifique |
| Editeur : |
Société Française de Microscopie Electronique |
| Année de publication : |
1972 |
| Importance : |
546 p. |
| Note générale : |
Préface
Introduction
Liste des auteurs
Sommaire
Annexes
Index des matières |
| Catégories : |
Métallographie électronique
Metallurgie physique
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| Index. décimale : |
621.361 Spectroscopie industrielle |
| Résumé : |
Préparation des échantillons
Les accessoires. Caractéristiques. Emploi
Diverses approximations en théorie du comportement des électrons de 100 kV dans la matière
Diffraction des électrons par les cristaux et image. Théorie cinématique
Théorie dynamique pour les cristaux parfaits (Traitement d'optique ondulatoire)
Théorie dynamique de la diffraction des électrons dans un cristal parfait. Traitement à partir de la mécanique quantique
Traitement phénoménologique de l'absorption
Géométrie des défauts de structure
Contraste des défauts par la théorie cinématique
Tratement dynamique des défauts
Défauts plans
Structure fine des taches de diffraction
Alliages ordonnés
Contraste des images de dislocations en microscopie électronique
Contraste des petits défauts
Application de la microscopie électronique à l'étude des précipités
Contraste des inclusions
Microscopie électronique disperse à l'aide de prismes magnétiques
Eclairement de l'objet et techniques de contraste en microscopie électronique. Strioscopies. Contraste de phase
Microscopie à haute tension
L'optique géométrique et ondulatoire en microscopie de Lorentz
Quelques applications de la microanalyse par émission ionique secondaire
Utilisation de la microscopie à émission d'ions pour l'étude de très petits défauts cristallins
La méthode de Lang
Microsonde et microscope à balayage |
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