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Auteur F. MAURICE |
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Microanalyse et microscopie électronique à balayage. Ecole d'été de St-Martin-d'Hères, 11-16 septembre 1978 / F. MAURICE
Titre : Microanalyse et microscopie électronique à balayage. Ecole d'été de St-Martin-d'Hères, 11-16 septembre 1978 Type de document : texte imprimé Auteurs : F. MAURICE, Éditeur scientifique ; L. MENY, Éditeur scientifique ; R. TIXIER, Éditeur scientifique Editeur : Les Editions de Physique Année de publication : 1978 Importance : 534 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-902731-03-9 Note générale : Avant-propos
Liste des professeurs et moniteurs
Liste des constructeurs ayant participé à l'école
Sommaire
Glossaire des symboles et notations
Introduction : caractérisation des matériaux et méthodes microscopiques d'examen et d'analyse
Mots clés
Remarques et suggestionsIndex. décimale : 681.4 Instruments d'optique : lunettes, télescopes, microscopes Résumé : / Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00006367 681.4 / 1978 Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Sorti jusqu'au 15/05/2026 Microanalyse par sonde électronique :aspects quantiatifs. Paris 1989 / D. BENOIT
Titre : Microanalyse par sonde électronique :aspects quantiatifs. Paris 1989 Type de document : symposium Auteurs : D. BENOIT, Éditeur scientifique ; G. BRAUKT, Éditeur scientifique ; J.-F. BRESSE, Éditeur scientifique ; F. GRILLON, Éditeur scientifique ; F. MAURICE, Éditeur scientifique ; J.-L. POUCHOU, Éditeur scientifique ; J. RUSTE, Éditeur scientifique Editeur : Les Editions de Physique Année de publication : 1989 Importance : n. p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-900195-14-7 Note générale : Introduction
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Sommaire
Glossaire des symboles et notationsIndex. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : / Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00006368 621.361 / 1989 Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS RÉSERVÉ Symposia [Congrès PMM et Fluides] Exclu du prêt Microanalyse par sonde électronique : spectrométrie de rayons X. Paris 1987 / D. BENOIT
Titre : Microanalyse par sonde électronique : spectrométrie de rayons X. Paris 1987 Type de document : symposium Auteurs : D. BENOIT, Éditeur scientifique ; F. GRILLON, Éditeur scientifique ; F. MAURICE, Éditeur scientifique ; N. ROINEL, Éditeur scientifique ; J. RUSTE, Éditeur scientifique ; R. TIXIER, Éditeur scientifique Editeur : Les Editions de Physique Année de publication : 1987 Importance : n. p. ISBN/ISSN/EAN : 2-900-195-II-X Note générale : Introduction
Liste des auteurs
SommaireIndex. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : / Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00006369 621.361 / 1987 Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS RÉSERVÉ Symposia [Congrès PMM et Fluides] Exclu du prêt Pratique du microscope électronique à balayage. Paris 1985 / D. BENOIT
Titre : Pratique du microscope électronique à balayage. Paris 1985 Type de document : symposium Auteurs : D. BENOIT, Éditeur scientifique ; J.-F. BRESSE, Éditeur scientifique ; F. GRILLON, Éditeur scientifique ; F. MAURICE, Éditeur scientifique ; L. MENY, Éditeur scientifique ; J.-L. POUCHOU, Éditeur scientifique ; N. ROINEL, Éditeur scientifique ; J. RUSTE, Éditeur scientifique Editeur : Les Editions de Physique Année de publication : 1985 Importance : n. p. ISBN/ISSN/EAN : 2-950-195-07-1 Note générale : Introduction
Liste des auteurs
Sommaire
Bibliographie généraleIndex. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : / Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00006363 621.361 / 1985 Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS RÉSERVÉ Symposia [Congrès PMM et Fluides] Exclu du prêt