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Auteur Philippe GOUDEAU |
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Rayons X et matière : RX 2006 / Philippe GOUDEAU
Titre : Rayons X et matière : RX 2006 Type de document : symposium Auteurs : Philippe GOUDEAU, Marionnettiste ; René GUINEBRETIERE Editeur : Hermès Science Publications Année de publication : 2006 Importance : 298 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-1385-2 Note générale : Liste des auteurs
Table des matières
PréfaceCatégories : Rayons X
Rayons X:Applications industrielles
Rayons X:Diffraction
Spectroscopie des rayons XIndex. décimale : 539.72 Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques Résumé : Systèmes optiques pour la définition du faisceau X
Applications des différents types de détecteurs à la diffraction des rayons X pour l'analyse structurale des matériaux
La diffraction résolue en temps : un outil indispensable pour déterminer les mécanismes des réactions auto-entretenues
Diffraction des rayons X et analyse quantitative des phases. Applications in situ et sur site dans les industries de traitement des minerais
Les contraintes résiduelles : d'où viennent-elles ? Comment les caractériser ?
Evaluation des déformations induites par les contraintes thermiques dans des composants électroniques par diffraction des rayons X
Etude des microstructures par diffusion de rayonnements
Caractérisation microstructurale de poudres nanocristallines par diffraction des rayons X : Approches traditionnelles et modélisations
Quelques exemples de diffraction des rayons X dans les polymères
Etude par diffraction des rayons X de la microstructure de couches épitaxiées imparfaitesExemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00007575 539.72 / 2006 Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS RÉSERVÉ Symposia [Congrès PMM et Fluides] Exclu du prêt