1. Microscopie électronique 1970 vol. 1., résumés des communications présentées au septième congrès international Grenoble 30 août - 5 septembre 1970 / Pierre FAVARD

Titre : Microscopie électronique 1970 vol. 1., résumés des communications présentées au septième congrès international Grenoble 30 août - 5 septembre 1970 Type de document : symposium Auteurs : Pierre FAVARD, Éditeur scientifique Editeur : Société Française de Microscopie Electronique Année de publication : 1970 Importance : 674 p. Note générale : Contenu des volumes Préface Sommaire - contents Index des auteurs - authors' index Index. décimale : 502.82 Microscopie

Exemplaires (1)

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00005164	502.82 / 1970	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS RÉSERVÉ	Symposia [Congrès PMM et Fluides]	Exclu du prêt

2. Microscopie électronique 1970 vol. 2., résumés des communications présentées au septième congrès international Grenoble 30 août - 5 septembre 1970 / Pierre FAVARD

Titre : Microscopie électronique 1970 vol. 2., résumés des communications présentées au septième congrès international Grenoble 30 août - 5 septembre 1970 Type de document : symposium Auteurs : Pierre FAVARD, Éditeur scientifique Editeur : Société Française de Microscopie Electronique Année de publication : 1970 Importance : 659 p. Note générale : Contenu des volumes Préface Sommaire - contents Index des auteurs - authors' index Index. décimale : 502.82 Microscopie

Exemplaires (1)

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00005154	502.82 / 1970	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS RÉSERVÉ	Symposia [Congrès PMM et Fluides]	Exclu du prêt

Méthodes et techniques nouvelles d'observation en métallurgie physique / Bernard JOUFFREY

Titre : Méthodes et techniques nouvelles d'observation en métallurgie physique Type de document : texte imprimé Auteurs : Bernard JOUFFREY, Éditeur scientifique Editeur : Société Française de Microscopie Electronique Année de publication : 1972 Importance : 546 p. Note générale : Préface Introduction Liste des auteurs Sommaire Annexes Index des matières Catégories : Métallographie électronique Metallurgie physique Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : Préparation des échantillons Les accessoires. Caractéristiques. Emploi Diverses approximations en théorie du comportement des électrons de 100 kV dans la matière Diffraction des électrons par les cristaux et image. Théorie cinématique Théorie dynamique pour les cristaux parfaits (Traitement d'optique ondulatoire) Théorie dynamique de la diffraction des électrons dans un cristal parfait. Traitement à partir de la mécanique quantique Traitement phénoménologique de l'absorption Géométrie des défauts de structure Contraste des défauts par la théorie cinématique Tratement dynamique des défauts Défauts plans Structure fine des taches de diffraction Alliages ordonnés Contraste des images de dislocations en microscopie électronique Contraste des petits défauts Application de la microscopie électronique à l'étude des précipités Contraste des inclusions Microscopie électronique disperse à l'aide de prismes magnétiques Eclairement de l'objet et techniques de contraste en microscopie électronique. Strioscopies. Contraste de phase Microscopie à haute tension L'optique géométrique et ondulatoire en microscopie de Lorentz Quelques applications de la microanalyse par émission ionique secondaire Utilisation de la microscopie à émission d'ions pour l'étude de très petits défauts cristallins La méthode de Lang Microsonde et microscope à balayage

Exemplaires (1)

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00006234	621.361 JOU	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Disponible

---

1 (1 - 3 / 3) Par page : 25 50 100 200