Electron Backscatter Diffraction in Materials Science / SCHWARTZ, Adam, J.

Titre : Electron Backscatter Diffraction in Materials Science Type de document : texte imprimé Auteurs : SCHWARTZ, Adam, J. ; ADAMS, Brent, L. Editeur : Kluwer Academic / Plenum Publishers Année de publication : 2000 Importance : 339 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-306-46487-4 Note générale : Contributors Preface Contents Index Catégories : Cristallographie Matériaux Matériaux:Microscopie Microscopes électroniques à balayage Index. décimale : 620.11 Matériaux (propriétés, résistance)

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B00006397	620.11 SCH	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Sorti jusqu'au 15/05/2028

Fundamentals and applications of complex analysis / Harold COHEN

Titre : Fundamentals and applications of complex analysis Type de document : texte imprimé Auteurs : Harold COHEN, Auteur Editeur : Kluwer Academic / Plenum Publishers Année de publication : 2003 Importance : 418 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-306-47748-5 Note générale : Preface Contents Appendices References Index Langues : Anglais (eng) Catégories : Fonctions d'une variable complexe Index. décimale : 515.9 Fonctions de variables complexes Résumé : Introduction Complex numbers Complex variables Series, limits and residues Evaluation of integrals Multivalued functions, branch points and cuts Singularities of functions defined by integrals Conformal mapping Dispersion relations

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