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The Use of the Scanning Electron Microscope / J. W. S. HEARLE

Titre : The Use of the Scanning Electron Microscope Type de document : texte imprimé Auteurs : J. W. S. HEARLE, Auteur ; J. T. SPARROW, Auteur ; P. M. CROSS, Auteur Editeur : Pergamon Press, Ltd Année de publication : 1972 Importance : 278 p. Note générale : Contents List of Contributors List of Manufacturers and Suppliers Author Index Subject Index Catégories : Microscopie électronique à balayage Index. décimale : 681.4 Instruments d'optique : lunettes, télescopes, microscopes Résumé : Introduction to Scanning Electron Microscopy The Interaction of Electrons with Solids The Design and Use of the Scanning Electron Microscope Specimen Preparation Procedures for Using a Scanning Electron Microscope Applications to Metallurgy Applications to Fibres and Polymers Applications to Solid-State Electronics Application to Biological Materials Faults Dimensional Measurements Management of the SEM The Future of Scanning Electron Microscopy

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00012814	681.4 HEA	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	Sciences appliquées - Technologie	Disponible