Titre : | The Use of the Scanning Electron Microscope |
Type de document : | texte imprimé |
Auteurs : | J. W. S. HEARLE, Auteur ; J. T. SPARROW, Auteur ; P. M. CROSS, Auteur |
Editeur : | Pergamon Press, Ltd |
Année de publication : | 1972 |
Importance : | 278 p. |
Note générale : | Contents
List of Contributors
List of Manufacturers and Suppliers
Author Index
Subject Index |
Catégories : | Microscopie électronique à balayage
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Index. décimale : | 681.4 Instruments d'optique : lunettes, télescopes, microscopes |
Résumé : | Introduction to Scanning Electron Microscopy
The Interaction of Electrons with Solids
The Design and Use of the Scanning Electron Microscope
Specimen Preparation
Procedures for Using a Scanning Electron Microscope
Applications to Metallurgy
Applications to Fibres and Polymers
Applications to Solid-State Electronics
Application to Biological Materials
Faults
Dimensional Measurements
Management of the SEM
The Future of Scanning Electron Microscopy |