| Titre : | The Use of the Scanning Electron Microscope |
| Type de document : | texte imprimé |
| Auteurs : | J. W. S. HEARLE, Auteur ; J. T. SPARROW, Auteur ; P. M. CROSS, Auteur |
| Editeur : | Pergamon Press, Ltd |
| Année de publication : | 1972 |
| Importance : | 278 p. |
| Note générale : | Contents
List of Contributors
List of Manufacturers and Suppliers
Author Index
Subject Index |
| Catégories : | Microscopie électronique à balayage
|
| Index. décimale : | 681.4 Instruments d'optique : lunettes, télescopes, microscopes |
| Résumé : | Introduction to Scanning Electron Microscopy
The Interaction of Electrons with Solids
The Design and Use of the Scanning Electron Microscope
Specimen Preparation
Procedures for Using a Scanning Electron Microscope
Applications to Metallurgy
Applications to Fibres and Polymers
Applications to Solid-State Electronics
Application to Biological Materials
Faults
Dimensional Measurements
Management of the SEM
The Future of Scanning Electron Microscopy |
Faire une suggestion Affiner la rechercheThe Use of the Scanning Electron Microscope / J. W. S. HEARLE
