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Auteur Leonard, C. FELDMAN |
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Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis / Leonard, C. FELDMAN
Titre : Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis Type de document : texte imprimé Auteurs : Leonard, C. FELDMAN, Auteur ; James, W. MAYER, Auteur Editeur : North-Holland Publishing Company Année de publication : 1986 Importance : 352 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-444-00989-0 Note générale : Contents
Preface
Symbols Used in the Text
AppendixCatégories : Matière:Propriétés
Surfaces (technologie)
Transitions radiativesIndex. décimale : 530.4 Etats de la matière Résumé : An Overview : Concepts, Units, and the Bohr Atom
Atomic Collisions and Backscattering Spectrometry
Energy Loss of Light Ions and Backscattering Depth Profiles
Sputter Depth Profiles and Secondary Ion Mass Spectrometry
Channeling
Electron-Electron Interactions and the Depth Sensitivity of Electron Spectroscopies
Surface Structure
Photon Absorption in Solids and EXAFS
X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)
Radiative Transitions and the Electron Microprobe
Nonradiative Transitions and Auger Electron Spectroscopy
Nuclear Techniques : Activation Analysis and Prompt Radiation AnalysisExemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00012942 530.4 FEL Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 500 - Sciences - Mathématiques Disponible