Applications industrielles

Quantitative X-Ray Diffractometry / ZEVIN, Lev., S.

Titre : Quantitative X-Ray Diffractometry Type de document : texte imprimé Auteurs : ZEVIN, Lev., S. ; Giora KIMMEL Editeur : Springer Verlag Année de publication : 1995 Importance : 372 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-387-94541-5 Note générale : Preface Acknowledgements Contents References Index Catégories : :Rayons X:Diffraction :Rayons X:Diffraction:Applications industrielles Rayons X Index. décimale : 539.72 Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques Résumé : Introduction Physical Basic Geometric Aspects of X-Ray Diffractometry Methodology of Quantitative Phase Analysis Practical Aspects of Quantitative Phase Analysis Industrial Applications

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00004428	539.72 ZEV	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	Sciences - Mathématiques	Disponible