Titre : | Quantitative X-Ray Diffractometry |
Type de document : | texte imprimé |
Auteurs : | ZEVIN, Lev., S. ; Giora KIMMEL |
Editeur : | Springer Verlag |
Année de publication : | 1995 |
Importance : | 372 p. |
ISBN/ISSN/EAN : | 978-0-387-94541-5 |
Note générale : | Preface
Acknowledgements
Contents
References
Index |
Catégories : | :Rayons X:Diffraction :Rayons X:Diffraction:Applications industrielles Rayons X
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Index. décimale : | 539.72 Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques |
Résumé : | Introduction
Physical Basic
Geometric Aspects of X-Ray Diffractometry
Methodology of Quantitative Phase Analysis
Practical Aspects of Quantitative Phase Analysis
Industrial Applications |