Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, électrons et neutrons. Spectrométrie des rayons X, électrons et ions. Microscopie électronique / Jean-Pierre EBERHART
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Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
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B00004915 | 620.19 EBE | Ouvrage | BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE | 600 - Sciences appliquées - Technologie | Sorti jusqu'au 15/05/2026 |