| Titre : |
The Use of the Scanning Electron Microscope |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
J. W. S. HEARLE, Auteur ; J. T. SPARROW, Auteur ; P. M. CROSS, Auteur |
| Editeur : |
Pergamon Press, Ltd |
| Année de publication : |
1972 |
| Importance : |
278 p. |
| Note générale : |
Contents
List of Contributors
List of Manufacturers and Suppliers
Author Index
Subject Index |
| Catégories : |
Microscopie électronique à balayage
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| Index. décimale : |
681.4 Instruments d'optique : lunettes, télescopes, microscopes |
| Résumé : |
Introduction to Scanning Electron Microscopy
The Interaction of Electrons with Solids
The Design and Use of the Scanning Electron Microscope
Specimen Preparation
Procedures for Using a Scanning Electron Microscope
Applications to Metallurgy
Applications to Fibres and Polymers
Applications to Solid-State Electronics
Application to Biological Materials
Faults
Dimensional Measurements
Management of the SEM
The Future of Scanning Electron Microscopy |
