| Titre : |
Quantitative X-Ray Diffractometry |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
ZEVIN, Lev., S. ; Giora KIMMEL |
| Editeur : |
Springer Verlag |
| Année de publication : |
1995 |
| Importance : |
372 p. |
| ISBN/ISSN/EAN : |
978-0-387-94541-5 |
| Note générale : |
Preface
Acknowledgements
Contents
References
Index |
| Catégories : |
Rayons X
Rayons X:Diffraction
Rayons X:Diffraction:Applications industrielles
|
| Index. décimale : |
539.72 Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques |
| Résumé : |
Introduction
Physical Basic
Geometric Aspects of X-Ray Diffractometry
Methodology of Quantitative Phase Analysis
Practical Aspects of Quantitative Phase Analysis
Industrial Applications |
