Titre : |
Quantitative X-Ray Diffractometry |
Type de document : |
texte imprimé |
Auteurs : |
ZEVIN, Lev., S. ; Giora KIMMEL |
Editeur : |
Springer Verlag |
Année de publication : |
1995 |
Importance : |
372 p. |
ISBN/ISSN/EAN : |
978-0-387-94541-5 |
Note générale : |
Preface
Acknowledgements
Contents
References
Index |
Catégories : |
Rayons X Rayons X:Diffraction Rayons X:Diffraction:Applications industrielles
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Index. décimale : |
539.72 Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques |
Résumé : |
Introduction
Physical Basic
Geometric Aspects of X-Ray Diffractometry
Methodology of Quantitative Phase Analysis
Practical Aspects of Quantitative Phase Analysis
Industrial Applications |