Damage Tolerance of Metallic Structures : Analysis Methods and Applications a Symposium Sponsored by ASTM Committee E-24 on Fracture Testing Los Angeles, CA, 29 June 1981 / CHANG, James, B.

Titre : Damage Tolerance of Metallic Structures : Analysis Methods and Applications a Symposium Sponsored by ASTM Committee E-24 on Fracture Testing Los Angeles, CA, 29 June 1981 Type de document : symposium Auteurs : CHANG, James, B., Éditeur scientifique ; RUDD, James, L., Éditeur scientifique Editeur : American Society for Testing and Materials (ASTM) Année de publication : 1984 Collection : STP (Special Technical Publication) num. 842 Importance : 148 p. Note générale : Foreword A note pf Appreciation to Reviewers Contents Introduction Index Index. décimale : 621.1 Technique de la vapeur Résumé : /

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Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00006276	621.1 / 1981	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS RÉSERVÉ	Symposia [Congrès PMM et Fluides]	Exclu du prêt

Methods and Models for predicting Fatigue Crack Growth under Random Loading / CHANG, James, B.

Titre : Methods and Models for predicting Fatigue Crack Growth under Random Loading Type de document : texte imprimé Auteurs : CHANG, James, B., Éditeur scientifique ; HUDSON, C., M., Éditeur scientifique Editeur : American Society for Testing and Materials (ASTM) Année de publication : 1981 Collection : STP (Special Technical Publication) num. 748 Importance : 138 p. Note générale : Foreword Contents Introduction Summary Index Catégories : Matériaux Matériaux:Fatigue Matériaux:Fissuration Rupture, Mécanique de la Index. décimale : 620.1 Mécanique de l'ingénieur (mécanique appliquée) et matériaux Résumé : Round-Robin crack growth predictions on center-cracked tension specimens under random spectrum loading A root-mean-square approach for predicting fatigue crack growth under random loading A crack-closure model for predicting fatigue crac growth uner aircraft spectrum loading Multi-parameter yield zone model for predicting spectrum crack growth Crack growth behavior of center-cracked panel under random spectrum loading Random spectrum fatigue crack life predictions with or without considering load interactions

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Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00003913	620.1 CHA	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Disponible

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