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Speckle Metrology / Rajpal S. SIROHI

Titre : Speckle Metrology Type de document : texte imprimé Auteurs : Rajpal S. SIROHI Editeur : Marcel Dekker, Inc. Année de publication : 1993 Importance : 551 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-8247-8932-9 Note générale : About the series Preface Contents Contributors References Index Catégories : Contrôle non destructif Granularité (optique) Interférométrie par granularité Index. décimale : 621.3 Electrotechnique, électronique, télécommunications Résumé : Theory and applications of Speckle displacement and decorrelation echniques of displacement and deformation Speckle methods in experimental mechanics Recent developments in video Speckle interferometry Novel applications of Speckle metrology Particle image velocimetry White light Speckle metrology Surface roughness evaluation Automatic fringe analysis procedures in Speckle metrology Speckle metrology using hololenses Correlatiopn Speckle interferometry in the mechanics of contact interaction

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00003549	621.3 SIR	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	Sciences appliquées - Technologie	Disponible
B00005879	621.3 SIR	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	Sciences appliquées - Technologie	Disponible