| Titre : | Speckle Metrology | | Type de document : | texte imprimé | | Auteurs : | Rajpal S. SIROHI | | Editeur : | Marcel Dekker, Inc. | | Année de publication : | 1993 | | Importance : | 551 p. | | ISBN/ISSN/EAN : | 978-0-8247-8932-9 | | Note générale : | About the series
Preface
Contents
Contributors
References
Index | | Catégories : | Contrôle non destructif
Granularité (optique)
Interférométrie par granularité
| | Index. décimale : | 621.3 Electrotechnique, électronique, télécommunications | | Résumé : | Theory and applications of Speckle displacement and decorrelation
echniques of displacement and deformation
Speckle methods in experimental mechanics
Recent developments in video Speckle interferometry
Novel applications of Speckle metrology
Particle image velocimetry
White light Speckle metrology
Surface roughness evaluation
Automatic fringe analysis procedures in Speckle metrology
Speckle metrology using hololenses
Correlatiopn Speckle interferometry in the mechanics of contact interaction |
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