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Auteur Jaroslav FIALA
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10. Defect and Microstructure Analysis by Diffraction / Robert L. SNYDER
Titre : Defect and Microstructure Analysis by Diffraction Type de document : texte imprimé Auteurs : Robert L. SNYDER ; Jaroslav FIALA ; Hans J. BUNGE Editeur : Oxford University Press Année de publication : 1999 Collection : International Union of Cristallography Book Series Importance : 785 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-19-850189-3 Note générale : Preface
Contents
Contributors
Abbreviations
Introduction
References
IndexCatégories : Cristallographie Index. décimale : 548 Cristallographie Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00004924 548 SNY Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE Sciences - Mathématiques Disponible