Technique

Microscopie électronique

Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, électrons et neutrons. Spectrométrie des rayons X, électrons et ions. Microscopie électronique / Jean-Pierre EBERHART

Titre : Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, électrons et neutrons. Spectrométrie des rayons X, électrons et ions. Microscopie électronique Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Pierre EBERHART Editeur : Dunod Année de publication : 1989 Importance : 614 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-04-018797-2 Note générale : Avant-propos Table des matières Introduction Appendices Références bibliographiques Index alphabétique Catégories : :Rayons X:Diffraction Cristallographie Electrons Microscopie électronique Radiocristallographie Rayons X Spectroscopie Surfaces (technologie) Index. décimale : 620.11 Matériaux (propriétés, résistance)

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00006343	620.11 EBE	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Sorti jusqu'au 15/06/2023

Electron Microscopy of Interfaces in Metals and Alloys / C.T. FORWOOD

Titre : Electron Microscopy of Interfaces in Metals and Alloys Type de document : texte imprimé Auteurs : C.T. FORWOOD ; L.M. CLAREBROUGH Editeur : Adam Hilger, Ltd Année de publication : 1991 Collection : Electron Microscopy in Materials Science Series Importance : 424 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-7503-0116-9 Note générale : Contents Foreword Acknowledgments Introduction References Index Catégories : :Microscopie électronique:Technique Alliages Cristallographie Métaux Microscopie électronique Microscopie éléctronique en transmission Surfaces (physique) Index. décimale : 620.16 Métaux et leurs alliages Résumé : dislocation theory of interfaces Image formation and diffraction effects in the electron microscopy of interfaces Determination of crystallographic and diffraction parameters Low-angle grain boundaries High-angle grain boundaries Some properties of high-angle grain boundaries Interphase interfaces

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00006286	620.16 FOR	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Disponible

Electron Microscopy of Thin Crystals / HIRSCH, P., B.

Titre : Electron Microscopy of Thin Crystals Type de document : texte imprimé Auteurs : HIRSCH, P., B. ; A. HOWIE ; NICHOLSON, R., B. ; PASHLEY, D., W. ; WHELAN, M., J. Editeur : Butterworths & Co. (Publishers), Ltd. Année de publication : 1965 Importance : 549 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-408-18550-9 Note générale : Contents Preface Appendices Author Index Subject Index Catégories : :Electrons:Diffraction Cristallographie Electrons Microscopie électronique Index. décimale : 548 Cristallographie

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00004539	548 HIR	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	500 - Sciences - Mathématiques	Disponible

Fracture Handbook : Failure Analysis of Metallic Materials by Scanning Electron Microscopy / S. BHATTACHARYYA

Titre : Fracture Handbook : Failure Analysis of Metallic Materials by Scanning Electron Microscopy Type de document : texte imprimé Auteurs : S. BHATTACHARYYA, Auteur ; V. E. JOHNSON, Auteur ; S. AGARWAL, Auteur ; M. A. H. HOWES, Auteur Editeur : IIT Research Institute Année de publication : 1979 Importance : 570 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-915802-11-1 Note générale : Foreword Contents Introduction List of Figures List of Etchants for Metallography Selected Bibliography Catégories : Alliages Fractographie Métallographie Microscopie électronique Index. décimale : 669.95 Métallographie Résumé : Recommended Cleaning Solutions for Metallic Fractures List of Abbreviations Conversion Factors for Obtaining SI Units Ferrous Alloys Nickel-Base Alloys Titanium Alloys

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00011150	669.95 BHA	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Disponible

Introduction to Electron Microscopy / HALL, Cecil, E.

Titre : Introduction to Electron Microscopy Type de document : texte imprimé Auteurs : HALL, Cecil, E. Mention d'édition : 2nd edition Editeur : McGraw-Hill Book Company, Inc. Année de publication : 1966 Importance : 397 p. Note générale : Preface Contents Appendices Name Index Subject Index Catégories : Microscopie électronique Index. décimale : 681.4 Instruments d'optique : lunettes, télescopes, microscopes Résumé : Historical Notes and Physical Concepts Electrons in Electrostatic Fields Lens Theory The Electrostatic Lens The Magnetic Lens Lens Aberrations The Electron Microscope Scattering Phenomena and Diffraction Image Characteristics Techniques and Applications

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00004545	681.4 HAL	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Disponible

Polymer Microscopy / SAWYER, Linda, C.

Titre : Polymer Microscopy Type de document : texte imprimé Auteurs : SAWYER, Linda, C. ; GRUBB, David, T. Editeur : Cambridge : Cambridge Univeristy Press Année de publication : 1987 Importance : 303 p. ISBN/ISSN/EAN : 0-412-2510-6 Note générale : Contents Colour Plates appear between pages 242 and 243 Preface Acknowledgements Appendixes Index Catégories : :Microscopie électronique:Technique :Polymères:Propriétés optiques :Polymères:Surfaces Microscopie électronique Polymères Index. décimale : 620.192 Polymères, plastiques

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00006361	620.192 SAW	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Sorti jusqu'au 15/06/2023

Traité de microscopie électronique 1 / Claude MAGNA

Titre : Traité de microscopie électronique 1 Type de document : texte imprimé Auteurs : Claude MAGNA, Marionnettiste ; Nina CARASSO ; Pierre FAVARD ; Charles FERT ; Agnès OBERLIN ; Adrien SAULNIER ; Cyril TCHOUBAR Editeur : Hermann et Cie Année de publication : 1961 Importance : 648 p. Note générale : Sommaire Préface Introduction Avant-propos Index des auteurs Index des matières Table des planches hors-texte Table des matières Catégories : Microscopie électronique Index. décimale : 681.4 Instruments d'optique : lunettes, télescopes, microscopes Résumé : Rappel de la théorie de l'optique électronique à l'approximation de Gauss Instrumentation : Théorie et pratique Observation directe de la surface d'un échantillon massif en microscopie électronique Interférences, diffraction en optique électronique et leurs applications à la microscopie Introduction générale à la microscopie et la diffraction électroniques dans l'étude des solides Notions sur la diffraction électronique Généralités sur les techniques de préparation des objets Cristallographie Etudes morphologiques et structurales Etude des phénomènes cinétiques

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00004540	681.4 MAG	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Disponible

2. Practical Electron Microscopy in Materials Science / J.W. EDINGTON

Titre : Practical Electron Microscopy in Materials Science : Electron Diffraction in the Electron Microscope Type de document : texte imprimé Auteurs : J.W. EDINGTON Editeur : Philip's Technical Library Année de publication : 1975 Collection : Monographs in Practical Electron Microscopy in Materials Science Importance : 122 p. Note générale : Preface Acknowledgements Contents Appendix Catégories : :Electrons:Diffraction Electrons Microscopie électronique Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : INTRODUCTION TO ELECTRON DIFFRACTION A geometrical approach to electron diffraction from a crystalline specimen A quantitative approach to diffraction from a crystalline specimen The reciprocal lattice and transmission electron diffraction in the electron microscope ELECTRON DIFFRACTION PATTERNS IN THE ELECTRON MICROSCOPE Types of diffraction patterns Indexing diffraction patterns Uniqueness in indexing diffraction patterns USES OF DIFFRACTION PATTERNS FROM SINGLE CRYSTALS : THE BASIC DIFFRACTION PATTERN Specimen tilting experiments Orientation relationship determination Twinning Second phases Crystallographic information USES OF DIFFRACTION PATTERNS FROM SINGLE CRYSTALS : THE FINE STRUCTURE IN THE PATTERN Extra spots Spot splitting and satellite spots Streaks Diffuse scattering effects

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00006239	621.361 EDI	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Sorti jusqu'au 15/06/2023
B00006245	621.361 EDI	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Disponible

3. Practical Electron Microscopy in Materials Science / EDDINGTON, J., W.

Titre : Practical Electron Microscopy in Materials Science : Interpretation of Transmission Electron Micrographs Type de document : texte imprimé Auteurs : EDDINGTON, J., W. Editeur : Macmillan Company, Ltd Année de publication : 1975 Collection : Monographs in Practical Electron Microscopy in Materials Science Importance : 111 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-333-18575-9 Note générale : Preface Contents Recommended Reading References Appendices Catégories : :Electrons:Diffraction Electrons Microscopie électronique Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00006249	621.361 EDI	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Sorti jusqu'au 15/06/2023

5. Practical Electron Microscopy in Materials Science / THOMSON-RUSSELL, K., C.

Titre : Practical Electron Microscopy in Materials Science : Specimen Preparation Techniques Type de document : texte imprimé Auteurs : THOMSON-RUSSELL, K., C. ; EDDINGTON, J., W. Editeur : Macmillan Company, Ltd Année de publication : 1977 Collection : Monographs in Practical Electron Microscopy in Materials Science num. 5 Importance : 136 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-333-21980-5 Note générale : Contents Preface Acknowledgements Index Catégories : :Microscopie électronique:Technique Microscopie électronique Science des matériaux Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00006240	621.361 THO	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Sorti jusqu'au 15/06/2023