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Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, électrons et neutrons. Spectrométrie des rayons X, électrons et ions. Microscopie électronique / Jean-Pierre EBERHART
Titre : Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, électrons et neutrons. Spectrométrie des rayons X, électrons et ions. Microscopie électronique Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Pierre EBERHART Editeur : Dunod Année de publication : 1989 Importance : 614 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-04-018797-2 Note générale : Avant-propos
Table des matières
Introduction
Appendices
Références bibliographiques
Index alphabétiqueCatégories : :Rayons X:Diffraction
Cristallographie
Electrons
Microscopie électronique
Radiocristallographie
Rayons X
Spectroscopie
Surfaces (technologie)Index. décimale : 620.11 Matériaux (propriétés, résistance) Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00006343 620.11 EBE Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Sorti jusqu'au 15/06/2023 Electron Microscopy of Interfaces in Metals and Alloys / C.T. FORWOOD
Titre : Electron Microscopy of Interfaces in Metals and Alloys Type de document : texte imprimé Auteurs : C.T. FORWOOD ; L.M. CLAREBROUGH Editeur : Adam Hilger, Ltd Année de publication : 1991 Collection : Electron Microscopy in Materials Science Series Importance : 424 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-7503-0116-9 Note générale : Contents
Foreword
Acknowledgments
Introduction
References
IndexCatégories : :Microscopie électronique:Technique
Alliages
Cristallographie
Métaux
Microscopie électronique
Microscopie éléctronique en transmission
Surfaces (physique)Index. décimale : 620.16 Métaux et leurs alliages Résumé : dislocation theory of interfaces
Image formation and diffraction effects in the electron microscopy of interfaces
Determination of crystallographic and diffraction parameters
Low-angle grain boundaries
High-angle grain boundaries
Some properties of high-angle grain boundaries
Interphase interfacesExemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00006286 620.16 FOR Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Disponible Electron Microscopy of Thin Crystals / HIRSCH, P., B.
Titre : Electron Microscopy of Thin Crystals Type de document : texte imprimé Auteurs : HIRSCH, P., B. ; A. HOWIE ; NICHOLSON, R., B. ; PASHLEY, D., W. ; WHELAN, M., J. Editeur : Butterworths & Co. (Publishers), Ltd. Année de publication : 1965 Importance : 549 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-408-18550-9 Note générale : Contents
Preface
Appendices
Author Index
Subject IndexCatégories : :Electrons:Diffraction
Cristallographie
Electrons
Microscopie électroniqueIndex. décimale : 548 Cristallographie Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00004539 548 HIR Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 500 - Sciences - Mathématiques Disponible Fracture Handbook : Failure Analysis of Metallic Materials by Scanning Electron Microscopy / S. BHATTACHARYYA
Titre : Fracture Handbook : Failure Analysis of Metallic Materials by Scanning Electron Microscopy Type de document : texte imprimé Auteurs : S. BHATTACHARYYA, Auteur ; V. E. JOHNSON, Auteur ; S. AGARWAL, Auteur ; M., A., H. HOWES, Auteur Editeur : IIT Research Institute Année de publication : 1979 Importance : 570 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-915802-11-1 Note générale : Foreword
Contents
Introduction
List of Figures
List of Etchants for Metallography
Selected BibliographyCatégories : Alliages
Fractographie
Métallographie
Microscopie électroniqueIndex. décimale : 669.95 Métallographie Résumé : Recommended Cleaning Solutions for Metallic Fractures
List of Abbreviations
Conversion Factors for Obtaining SI Units
Ferrous Alloys
Nickel-Base Alloys
Titanium Alloys
Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00011150 669.95 BHA Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Disponible Introduction to Electron Microscopy / HALL, Cecil, E.
Titre : Introduction to Electron Microscopy Type de document : texte imprimé Auteurs : HALL, Cecil, E. Mention d'édition : 2nd edition Editeur : McGraw-Hill Book Company, Inc. Année de publication : 1966 Importance : 397 p. Note générale : Preface
Contents
Appendices
Name Index
Subject IndexCatégories : Microscopie électronique Index. décimale : 681.4 Instruments d'optique : lunettes, télescopes, microscopes Résumé : Historical Notes and Physical Concepts
Electrons in Electrostatic Fields
Lens Theory
The Electrostatic Lens
The Magnetic Lens
Lens Aberrations
The Electron Microscope
Scattering Phenomena and Diffraction
Image Characteristics
Techniques and ApplicationsExemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00004545 681.4 HAL Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Disponible Polymer Microscopy / SAWYER, Linda, C.
Titre : Polymer Microscopy Type de document : texte imprimé Auteurs : SAWYER, Linda, C. ; GRUBB, David, T. Editeur : Cambridge : Cambridge Univeristy Press Année de publication : 1987 Importance : 303 p. ISBN/ISSN/EAN : 0-412-2510-6 Note générale : Contents
Colour Plates appear between pages 242 and 243
Preface
Acknowledgements
Appendixes
IndexCatégories : :Microscopie électronique:Technique
:Polymères:Propriétés optiques
:Polymères:Surfaces
Microscopie électronique
PolymèresIndex. décimale : 620.192 Polymères, plastiques Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00006361 620.192 SAW Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Sorti jusqu'au 15/06/2023 Traité de microscopie électronique 1 / Claude MAGNA
Titre : Traité de microscopie électronique 1 Type de document : texte imprimé Auteurs : Claude MAGNA, Marionnettiste ; Nina CARASSO ; Pierre FAVARD ; Charles FERT ; Agnès OBERLIN ; Adrien SAULNIER ; Cyril TCHOUBAR Editeur : Hermann et Cie Année de publication : 1961 Importance : 648 p. Note générale : Sommaire
Préface
Introduction
Avant-propos
Index des auteurs
Index des matières
Table des planches hors-texte
Table des matièresCatégories : Microscopie électronique Index. décimale : 681.4 Instruments d'optique : lunettes, télescopes, microscopes Résumé : Rappel de la théorie de l'optique électronique à l'approximation de Gauss
Instrumentation : Théorie et pratique
Observation directe de la surface d'un échantillon massif en microscopie électronique
Interférences, diffraction en optique électronique et leurs applications à la microscopie
Introduction générale à la microscopie et la diffraction électroniques dans l'étude des solides
Notions sur la diffraction électronique
Généralités sur les techniques de préparation des objets
Cristallographie
Etudes morphologiques et structurales
Etude des phénomènes cinétiquesExemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00004540 681.4 MAG Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Disponible 2. Practical Electron Microscopy in Materials Science / J.W. EDINGTON
Titre : Practical Electron Microscopy in Materials Science : Electron Diffraction in the Electron Microscope Type de document : texte imprimé Auteurs : J.W. EDINGTON Editeur : Philip's Technical Library Année de publication : 1975 Collection : Monographs in Practical Electron Microscopy in Materials Science Importance : 122 p. Note générale : Preface
Acknowledgements
Contents
AppendixCatégories : :Electrons:Diffraction
Electrons
Microscopie électroniqueIndex. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : INTRODUCTION TO ELECTRON DIFFRACTION
A geometrical approach to electron diffraction from a crystalline specimen
A quantitative approach to diffraction from a crystalline specimen
The reciprocal lattice and transmission electron diffraction in the electron microscope
ELECTRON DIFFRACTION PATTERNS IN THE ELECTRON MICROSCOPE
Types of diffraction patterns
Indexing diffraction patterns
Uniqueness in indexing diffraction patterns
USES OF DIFFRACTION PATTERNS FROM SINGLE CRYSTALS : THE BASIC DIFFRACTION PATTERN
Specimen tilting experiments
Orientation relationship determination
Twinning
Second phases
Crystallographic information
USES OF DIFFRACTION PATTERNS FROM SINGLE CRYSTALS : THE FINE STRUCTURE IN THE PATTERN
Extra spots
Spot splitting and satellite spots
Streaks
Diffuse scattering effectsExemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00006239 621.361 EDI Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Sorti jusqu'au 15/06/2023 B00006245 621.361 EDI Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Disponible 3. Practical Electron Microscopy in Materials Science / EDDINGTON, J., W.
Titre : Practical Electron Microscopy in Materials Science : Interpretation of Transmission Electron Micrographs Type de document : texte imprimé Auteurs : EDDINGTON, J., W. Editeur : Macmillan Company, Ltd Année de publication : 1975 Collection : Monographs in Practical Electron Microscopy in Materials Science Importance : 111 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-333-18575-9 Note générale : Preface
Contents
Recommended Reading
References
AppendicesCatégories : :Electrons:Diffraction
Electrons
Microscopie électroniqueIndex. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00006249 621.361 EDI Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Sorti jusqu'au 15/06/2023 5. Practical Electron Microscopy in Materials Science / THOMSON-RUSSELL, K., C.
Titre : Practical Electron Microscopy in Materials Science : Specimen Preparation Techniques Type de document : texte imprimé Auteurs : THOMSON-RUSSELL, K., C. ; EDDINGTON, J., W. Editeur : Macmillan Company, Ltd Année de publication : 1977 Collection : Monographs in Practical Electron Microscopy in Materials Science num. 5 Importance : 136 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-333-21980-5 Note générale : Contents
Preface
Acknowledgements
IndexCatégories : :Microscopie électronique:Technique
Microscopie électronique
Science des matériauxIndex. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00006240 621.361 THO Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Sorti jusqu'au 15/06/2023