Electron Backscatter Diffraction in Materials Science / SCHWARTZ, Adam, J.

Titre : Electron Backscatter Diffraction in Materials Science Type de document : texte imprimé Auteurs : SCHWARTZ, Adam, J. ; ADAMS, Brent, L. Editeur : Kluwer Academic / Plenum Publishers Année de publication : 2000 Importance : 339 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-306-46487-4 Note générale : Contributors Preface Contents Index Catégories : Cristallographie Matériaux Matériaux:Microscopie Microscopes électroniques à balayage Index. décimale : 620.11 Matériaux (propriétés, résistance)

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Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00006397	620.11 SCH	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Sorti jusqu'au 15/05/2026

Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials / Brent FULTZ

Titre : Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials Type de document : texte imprimé Auteurs : Brent FULTZ ; James HOWE Editeur : Springer Verlag Année de publication : 2001 Importance : 748 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-3-540-67841-0 Note générale : Preface Contents Bibliography Appendix Index Catégories : Matériaux Matériaux:Microscopie Index. décimale : 620.11 Matériaux (propriétés, résistance)

Exemplaires (1)

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00006526	620.11 FUL	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Sorti jusqu'au 15/05/2026

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