Electron Microscopy of Interfaces in Metals and Alloys / C.T. FORWOOD

Titre : Electron Microscopy of Interfaces in Metals and Alloys Type de document : texte imprimé Auteurs : C.T. FORWOOD ; L.M. CLAREBROUGH Editeur : Adam Hilger, Ltd Année de publication : 1991 Collection : Electron Microscopy in Materials Science Series Importance : 424 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-7503-0116-9 Note générale : Contents Foreword Acknowledgments Introduction References Index Catégories : Alliages Cristallographie Métaux Microscopie électronique Microscopie éléctronique en transmission Microscopie électronique:Technique Surfaces (physique) Index. décimale : 620.16 Métaux et leurs alliages Résumé : dislocation theory of interfaces Image formation and diffraction effects in the electron microscopy of interfaces Determination of crystallographic and diffraction parameters Low-angle grain boundaries High-angle grain boundaries Some properties of high-angle grain boundaries Interphase interfaces

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B00006286	620.16 FOR	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Disponible

Guide de préparation des échantillons pour la microscopie électronique en transmission : 1., Méthodologie / Jeanne AYACHE

Titre : Guide de préparation des échantillons pour la microscopie électronique en transmission : 1., Méthodologie Type de document : texte imprimé Auteurs : Jeanne AYACHE ; Luc BEAUNIER ; Jacqueline BOUMENDIL ; Gabrielle EHRET ; Danièle LAUB Editeur : Publications de l'Université de Saint-Etienne Année de publication : 2007 Collection : Intégrations Importance : 270 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-86272-441-6 Note générale : Préface Avant-propos Crédit photo Catégories : Matériaux Matériaux:Essais Microscopie éléctronique en transmission Index. décimale : 681.7 Instruments utilisés dans les domaines scientifiques et techniques Résumé : Introduction aux matériaux Les différents modes d'observations en microscopie électronique (SEM, TEM, STEM) Problématique matériau et analysesen TEM et TEM/STEM Mécanismes physiques et chimiques des techniques de préparation Artéfacts en microscopie électronique en transmission Choix de la technique de préparation en fonction de la problématique matériau et des analyses TEM Comparaisons entre techniques

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Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00007167	681.7 AYA	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Disponible
B00007270	681.7 AYA	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Disponible

Guide de préparation des échantillons pour la microscopie électronique en transmission : 2., Techniques / Jeanne AYACHE

Titre : Guide de préparation des échantillons pour la microscopie électronique en transmission : 2., Techniques Type de document : texte imprimé Auteurs : Jeanne AYACHE ; Luc BEAUNIER ; Jacqueline BOUMENDIL ; Gabrielle EHRET ; Danièle LAUB Editeur : Publications de l'Université de Saint-Etienne Année de publication : 2007 Collection : Intégrations Importance : 398 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-86272-442-3 Note générale : Préface Avant-propos Lexique Crédit photo Catégories : Matériaux Matériaux:Essais Microscopie éléctronique en transmission Index. décimale : 681.7 Instruments utilisés dans les domaines scientifiques et techniques Résumé : Introduction générale Techniques de préparation préalables Techniques de préparation par amincissement Techniques de préparation mécanique Techniques des répliques Techniques spécifiques aux matériaux divisés Techniques d'augmentation de contraste de marquage

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B00007273	681.7 AYA	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Disponible
B00007269	681.7 AYA	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Sorti jusqu'au 15/05/2026

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