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Détail d'une collection
Collection Intégrations
- Editeur : Publications de l'Université de Saint-Etienne
- ISSN : pas d'ISSN
Documents disponibles dans la collection



Matériaux et joints d'étanchéité pour les hautes pressions / Patrick BOISSINOT
Titre : Matériaux et joints d'étanchéité pour les hautes pressions Type de document : texte imprimé Auteurs : Patrick BOISSINOT, Marionnettiste ; Patrick LANGLOIS, Marionnettiste ; Agilio PADUA, Marionnettiste Editeur : Publications de l'Université de Saint-Etienne Année de publication : 2004 Collection : Intégrations Importance : 216 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-86272-330-3 Note générale : Remerciements
Table des matières
Préface
Annexe : Tableau de correspondance entre diverses unités de pressionCatégories : :Matériaux:Effets des hautes pressions
Hautes pressions
Joints d'étanchéité
MatériauxIndex. décimale : 620.1 Mécanique de l'ingénieur (mécanique appliquée) et matériaux Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00004209 620.1 BOI Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Sorti jusqu'au 15/06/2023 B00004604 621.8 BOI Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Disponible Guide de préparation des échantillons pour la microscopie électronique en transmission : 1., Méthodologie / Jeanne AYACHE
Titre : Guide de préparation des échantillons pour la microscopie électronique en transmission : 1., Méthodologie Type de document : texte imprimé Auteurs : Jeanne AYACHE ; Luc BEAUNIER ; Jacqueline BOUMENDIL ; Gabrielle EHRET ; Danièle LAUB Editeur : Publications de l'Université de Saint-Etienne Année de publication : 2007 Collection : Intégrations Importance : 270 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-86272-441-6 Note générale : Préface
Avant-propos
Crédit photoCatégories : :Matériaux:Essais
Matériaux
Microscopie éléctronique en transmissionIndex. décimale : 681.7 Instruments utilisés dans les domaines scientifiques et techniques Résumé : Introduction aux matériaux
Les différents modes d'observations en microscopie électronique (SEM, TEM, STEM)
Problématique matériau et analysesen TEM et TEM/STEM
Mécanismes physiques et chimiques des techniques de préparation
Artéfacts en microscopie électronique en transmission
Choix de la technique de préparation en fonction de la problématique matériau et des analyses TEM
Comparaisons entre techniquesExemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00007167 681.7 AYA Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Disponible B00007270 681.7 AYA Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Disponible Guide de préparation des échantillons pour la microscopie électronique en transmission : 2., Techniques / Jeanne AYACHE
Titre : Guide de préparation des échantillons pour la microscopie électronique en transmission : 2., Techniques Type de document : texte imprimé Auteurs : Jeanne AYACHE ; Luc BEAUNIER ; Jacqueline BOUMENDIL ; Gabrielle EHRET ; Danièle LAUB Editeur : Publications de l'Université de Saint-Etienne Année de publication : 2007 Collection : Intégrations Importance : 398 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-86272-442-3 Note générale : Préface
Avant-propos
Lexique
Crédit photoCatégories : :Matériaux:Essais
Matériaux
Microscopie éléctronique en transmissionIndex. décimale : 681.7 Instruments utilisés dans les domaines scientifiques et techniques Résumé : Introduction générale
Techniques de préparation préalables
Techniques de préparation par amincissement
Techniques de préparation mécanique
Techniques des répliques
Techniques spécifiques aux matériaux divisés
Techniques d'augmentation de contraste de marquageExemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00007273 681.7 AYA Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Disponible B00007269 681.7 AYA Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Sorti jusqu'au 15/06/2023