2. Practical Electron Microscopy in Materials Science / J.W. EDINGTON

Titre : Practical Electron Microscopy in Materials Science : Electron Diffraction in the Electron Microscope Type de document : texte imprimé Auteurs : J.W. EDINGTON Editeur : Philip's Technical Library Année de publication : 1975 Collection : Monographs in Practical Electron Microscopy in Materials Science Importance : 122 p. Note générale : Preface Acknowledgements Contents Appendix Catégories : Electrons Electrons:Diffraction Microscopie électronique Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : INTRODUCTION TO ELECTRON DIFFRACTION A geometrical approach to electron diffraction from a crystalline specimen A quantitative approach to diffraction from a crystalline specimen The reciprocal lattice and transmission electron diffraction in the electron microscope ELECTRON DIFFRACTION PATTERNS IN THE ELECTRON MICROSCOPE Types of diffraction patterns Indexing diffraction patterns Uniqueness in indexing diffraction patterns USES OF DIFFRACTION PATTERNS FROM SINGLE CRYSTALS : THE BASIC DIFFRACTION PATTERN Specimen tilting experiments Orientation relationship determination Twinning Second phases Crystallographic information USES OF DIFFRACTION PATTERNS FROM SINGLE CRYSTALS : THE FINE STRUCTURE IN THE PATTERN Extra spots Spot splitting and satellite spots Streaks Diffuse scattering effects

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B00006239	621.361 EDI	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Sorti jusqu'au 15/05/2026
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3. Practical Electron Microscopy in Materials Science / EDDINGTON, J., W.

Titre : Practical Electron Microscopy in Materials Science : Interpretation of Transmission Electron Micrographs Type de document : texte imprimé Auteurs : EDDINGTON, J., W. Editeur : Macmillan Company, Ltd Année de publication : 1975 Collection : Monographs in Practical Electron Microscopy in Materials Science Importance : 111 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-333-18575-9 Note générale : Preface Contents Recommended Reading References Appendices Catégories : Electrons Electrons:Diffraction Microscopie électronique Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle

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L'analyse EBSD. Principes et applications / Jean-Louis POUCHOU

Titre : L'analyse EBSD. Principes et applications Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Louis POUCHOU, Éditeur scientifique Editeur : EDP Sciences Année de publication : 2004 Importance : 213 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-86883-730-1 Note générale : Préface Sommaire Catégories : Analyse EBSD Analyse par microsonde Electrons Electrons:Rétrodiffusion Microscopes électroniques à balayage Microscopie à force atomique Microstructure (physique) Microstructure (physique):Technique Optique cristalline Index. décimale : 681.4 Instruments d'optique : lunettes, télescopes, microscopes Résumé : Introduction à l'analyse EBSD : principes généraux et mise en oeuvre dans un MEB Rappels de cristallographie et notions de base sur les textures Analyse cristallographique locale et cartographie d'orientation grand champ : deux exemples très différents d'utilisation de l'analyse EBSD Deux exemples d'études par analyse EBSD : (1) Gravage des joints de grains nickel par l'argent liquide (2) Texture locale 'échantillons d'hexaferrite de strontium L'EBSD : un outil pour la micromécanique des matériaux Caractérisation cristallographiques par EBSD de la microstructure et de la fissuration des aciers inoxydables austéno-ferritiques moulés Apports de la technique EBSD à l'étude des mécanismes d'évolution microstructurale en déformation à chaud : application aux alliages Inconel 718, Zircaloy 4, et Aluminium 2024 Apport de l'ESBD et des essais in situ à l'étude du comportement thermomécanique des matériaux Uilisation combinée de l'ESBD et de l'EDS pour l'identification des phases cristallines dans des cas faciles et difficiles Caractérisation de la microtexture : quand faut-il utiliser le microscope électronique à transmission ? Analyse de textures par EBSD en Sciences de la Terre Utilisation de l'érosion ionique pour la préparation d'échantillons en EBSD Cartographie EBSD haute résolution Technologie et performances comparées des caméras utilisées en analyse EBSD

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Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, électrons et neutrons. Spectrométrie des rayons X, électrons et ions. Microscopie électronique / Jean-Pierre EBERHART

Titre : Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, électrons et neutrons. Spectrométrie des rayons X, électrons et ions. Microscopie électronique Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Pierre EBERHART Editeur : Dunod Année de publication : 1989 Importance : 614 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-04-018797-2 Note générale : Avant-propos Table des matières Introduction Appendices Références bibliographiques Index alphabétique Catégories : Cristallographie Electrons Microscopie électronique Radiocristallographie Rayons X Rayons X:Diffraction Spectroscopie Surfaces (technologie) Index. décimale : 620.11 Matériaux (propriétés, résistance)

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Conférence internationale sur la diffusion des phonons dans les solides, Paris, 3-6 juillet, 1972 / H., J. ALBANY

Titre : Conférence internationale sur la diffusion des phonons dans les solides, Paris, 3-6 juillet, 1972 Titre original : International conference on phonon scattering in solids, Paris, 3-6 juillet, 1972 Type de document : symposium Auteurs : H., J. ALBANY Editeur : Sarclay : Service de documentation du CEN Année de publication : 1972 Importance : 394 p. Note générale : Préface / Preface Table des matières / Contents Index Auteurs / Index Author Catégories : Diffusion (physique) Electrons Phonons Solides Index. décimale : 530.4 Etats de la matière Résumé : /

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B00012911	530.4 / 1972	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	Symposiums [Congrès Thermique et Combustion]	Disponible

Electron Diffraction / R BEECHING

Titre : Electron Diffraction Type de document : texte imprimé Auteurs : R BEECHING ; G. P. THOMPSON Mention d'édition : Third edition Editeur : John Wiley & Sons, Inc. Année de publication : 1950 Importance : 107 p. Note générale : Preface Contents Subject index Name index Catégories : Electrons Electrons:Diffraction Index. décimale : 539.7 Physique atomique et nucléaire

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B00003574	539.7 BEE	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	500 - Sciences - Mathématiques	Disponible

Electron Microscopy of Thin Crystals / HIRSCH, P., B.

Titre : Electron Microscopy of Thin Crystals Type de document : texte imprimé Auteurs : HIRSCH, P., B. ; A. HOWIE ; NICHOLSON, R., B. ; PASHLEY, D., W. ; WHELAN, M., J. Editeur : Butterworths & Co. (Publishers), Ltd. Année de publication : 1965 Importance : 549 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-408-18550-9 Note générale : Contents Preface Appendices Author Index Subject Index Catégories : Cristallographie Electrons Electrons:Diffraction Microscopie électronique Index. décimale : 548 Cristallographie

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Interpretation of Electron Diffraction Patterns / ANDREWS, K., W.

Titre : Interpretation of Electron Diffraction Patterns Type de document : texte imprimé Auteurs : ANDREWS, K., W. ; DYSON, D., J. ; KEOWN, S., R. Mention d'édition : 2nd impression Editeur : Adam Hilger, Ltd Année de publication : 1968 Importance : 188 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-85274-120-7 Note générale : Preface Contents Stereogrpahic Projections Tables Important Notes Symbols and Abbreviations Introduction Appendix A : Simple Stereographic Plotting Table References Index Catégories : Cristallographie Cristallographie:Tables Electrons Electrons:Diffraction Index. décimale : 548 Cristallographie

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B00006250	548 AND	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	500 - Sciences - Mathématiques	Disponible

Modern Techniques in Metallography / D. G. BRANDON

Titre : Modern Techniques in Metallography Type de document : texte imprimé Auteurs : D. G. BRANDON, Auteur Editeur : Butterworths & Co. (Publishers), Ltd. Année de publication : 1966 Importance : 266 p. Note générale : Contents Preface Acknowledgements Bibliography Index Catégories : Electrons Métallographie:Technique Microanalyse par émission X Rayons X Index. décimale : 669.95 Métallographie Résumé : THE STUDY OF SURFACE STRUCTURE Historical Introduction Classical Optical Metallography The Enhancement of Contrast in the Optical Microscope Quantitative Surface Topography The Improvement of Resolution in Optical Microscopy Electron Microscopy of Surfaces THE STUDY OF BULK STRUCTURE Introduction Transmission of Radiation Through Matter X-ray Absorption Microscopy (Microradiography) X-ray Diffraction Microscopy Thin-film Electron Microscopy MICROANALYSIS Absorption Analysis Fluorescence Analysis Electron-probe Microanalysis Secondary Ion Emission Analysis FIELD EMISSION AND FIELD-ION MICROSCOPY Field Emission Microscopy Field-ion Microscopy QUANTITATIVE METALLOGRAPHY Summary of Metallographic Techniques Statistics of Image Observation and Recording Quantitative Analysis of Microstructure Automatic Analysis

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B00011156	669.95 BRA	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Disponible

Physical Chemistry. An Advanced Treatise : 3., Electronic Structure of Atoms and Molecules / Douglas HENDERSON

Titre : Physical Chemistry. An Advanced Treatise : 3., Electronic Structure of Atoms and Molecules Type de document : texte imprimé Auteurs : Douglas HENDERSON Editeur : Academic Press, Inc. Année de publication : 1969 Importance : 612 p. Note générale : List of Contributors Foreword Preface Contents Author Index Subject Index Catégories : Atomes Chimie physique et théorique Electrons Electrons:Corrélation Molécules Index. décimale : 541.2 Chimie théorique : structure moléculaire, atomique, chimie quantique

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B00002677	541.2 HEN	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	500 - Sciences - Mathématiques	Disponible

Traité des matériaux : 3., Caractérisation expérimentale des matériaux vol. 2 / Jean-Luc MARTIN

Titre : Traité des matériaux : 3., Caractérisation expérimentale des matériaux vol. 2 Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Luc MARTIN ; Armand GEORGE Editeur : Presses Polytechniques et Universitaires Romandes (PPUR) Année de publication : 1998 Importance : 367 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-88074-364-2 Note générale : Présentation du Traité des matériaux Avant-propos Annexes Liste des symboles Index Biographie des auteurs Catégories : Electrons Electrons:Diffraction Electrons:Diffusion Matériaux Matériaux:Analyse Microanalyse par émission X Microstructure (physique) Neutrons Neutrons:Diffraction Neutrons:Diffusion Rayons X Rayons X:Diffraction Rayons X:Diffusion Index. décimale : 620.1 Mécanique de l'ingénieur (mécanique appliquée) et matériaux Résumé : PHYSIQUE DES INTERACTIONS RAYONNEMENT-MATIERE Généralités sur les interactions rayonnement-matière Diffusion cohérente des rayonnements par les cristaux Propagation d'ondes dans les cristaux CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR RAYONS X Sources de rayons X, conditionnement et analyse des rayons X Méthodes de caractérisation structurale par diffusion et diffraction des rayons X Topographie aux rayons X CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR FAISCEAUX D'ELECTRONS Microscope électronique à transmission Informations fournies par le microscope électronique à transmission Microscopeélectronique à balayage Microanalyse par faisceaux d'électrons CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR FAISCEAUX DE NEUTRONS Diffusion et diffraction des neutrons EXEMPLE DE CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR RAYONS X ET ELECTRONS Etude de la microstructure d'un revêtement réalisé par projection thermique

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B00006532	620.1 MAR	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Disponible
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