L'analyse EBSD. Principes et applications / Jean-Louis POUCHOU

Titre : L'analyse EBSD. Principes et applications Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Louis POUCHOU, Éditeur scientifique Editeur : EDP Sciences Année de publication : 2004 Importance : 213 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-86883-730-1 Note générale : Préface Sommaire Catégories : Analyse EBSD Analyse par microsonde Electrons Electrons:Rétrodiffusion Microscopes électroniques à balayage Microscopie à force atomique Microstructure (physique) Microstructure (physique):Technique Optique cristalline Index. décimale : 681.4 Instruments d'optique : lunettes, télescopes, microscopes Résumé : Introduction à l'analyse EBSD : principes généraux et mise en oeuvre dans un MEB Rappels de cristallographie et notions de base sur les textures Analyse cristallographique locale et cartographie d'orientation grand champ : deux exemples très différents d'utilisation de l'analyse EBSD Deux exemples d'études par analyse EBSD : (1) Gravage des joints de grains nickel par l'argent liquide (2) Texture locale 'échantillons d'hexaferrite de strontium L'EBSD : un outil pour la micromécanique des matériaux Caractérisation cristallographiques par EBSD de la microstructure et de la fissuration des aciers inoxydables austéno-ferritiques moulés Apports de la technique EBSD à l'étude des mécanismes d'évolution microstructurale en déformation à chaud : application aux alliages Inconel 718, Zircaloy 4, et Aluminium 2024 Apport de l'ESBD et des essais in situ à l'étude du comportement thermomécanique des matériaux Uilisation combinée de l'ESBD et de l'EDS pour l'identification des phases cristallines dans des cas faciles et difficiles Caractérisation de la microtexture : quand faut-il utiliser le microscope électronique à transmission ? Analyse de textures par EBSD en Sciences de la Terre Utilisation de l'érosion ionique pour la préparation d'échantillons en EBSD Cartographie EBSD haute résolution Technologie et performances comparées des caméras utilisées en analyse EBSD

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EBSD : analyse par diffraction des électrons rétrodiffusés. Applications et techniques couplées / François BRISSET

Titre : EBSD : analyse par diffraction des électrons rétrodiffusés. Applications et techniques couplées Type de document : texte imprimé Auteurs : François BRISSET, Éditeur scientifique Editeur : EDP Sciences Année de publication : 2015 Importance : 308 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7598-1912-6 Note générale : Avant-propos Liste des acronymes Table des chapitres Références Langues : Français (fre) Catégories : Analyse EBSD Microscopes électroniques à balayage Rayons X:Diffraction Index. décimale : 681.4 Instruments d'optique : lunettes, télescopes, microscopes Résumé : Introduction à la diffraction des électrons rétrodiffusés EBSD : historique Caractérisation de la texture cristallographique, comparaison des techniques expérimentales de diffraction : rayons X, Neutrons et EBSD Préparation d’échantillons pour une caractérisation EBSD Analyse EBSD et échantillons isolants EBSD et bio-matériaux : l’exemple de la nacre Traction et recuit in-situ analysés par EBSD Couplage EBSD et essais mécaniques in-situ en MEB, méthode de glissement intergranulaire lors du fluage à 850°C d'un superalliage de base de nickel 3D EBSD Le couplage multiple en microscopie électronique à balayage : EBSD /EDS et RAMAN High angular resolution EBSD for measurement of strain and residual dislocation density Diffraction Kikuchi en Transmission dans le MEB La microdiffraction Kossel - Détermination des déformations et contraintes à l’échelle du micromètre

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Introduction to Electron Microscopy / HALL, Cecil, E.

Titre : Introduction to Electron Microscopy Type de document : texte imprimé Auteurs : HALL, Cecil, E. Mention d'édition : 2nd edition Editeur : McGraw-Hill Book Company, Inc. Année de publication : 1966 Importance : 397 p. Note générale : Preface Contents Appendices Name Index Subject Index Catégories : Microscopie électronique Index. décimale : 681.4 Instruments d'optique : lunettes, télescopes, microscopes Résumé : Historical Notes and Physical Concepts Electrons in Electrostatic Fields Lens Theory The Electrostatic Lens The Magnetic Lens Lens Aberrations The Electron Microscope Scattering Phenomena and Diffraction Image Characteristics Techniques and Applications

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Microanalyse et microscopie électronique à balayage. Ecole d'été de St-Martin-d'Hères, 11-16 septembre 1978 / F. MAURICE

Titre : Microanalyse et microscopie électronique à balayage. Ecole d'été de St-Martin-d'Hères, 11-16 septembre 1978 Type de document : texte imprimé Auteurs : F. MAURICE, Éditeur scientifique ; L. MENY, Éditeur scientifique ; R. TIXIER, Éditeur scientifique Editeur : Les Editions de Physique Année de publication : 1978 Importance : 534 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-902731-03-9 Note générale : Avant-propos Liste des professeurs et moniteurs Liste des constructeurs ayant participé à l'école Sommaire Glossaire des symboles et notations Introduction : caractérisation des matériaux et méthodes microscopiques d'examen et d'analyse Mots clés Remarques et suggestions Index. décimale : 681.4 Instruments d'optique : lunettes, télescopes, microscopes Résumé : /

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Scanning Tunneling Microscopy : 1., General Principles and Applications to Clean and Absorbate-Covered Surfaces / H.-J. GÜNTHERODT

Titre : Scanning Tunneling Microscopy : 1., General Principles and Applications to Clean and Absorbate-Covered Surfaces Type de document : texte imprimé Auteurs : H.-J. GÜNTHERODT, Éditeur scientifique ; R. WIESENDANGER, Éditeur scientifique Mention d'édition : 2nd ed. Editeur : Springer Verlag Année de publication : 1994 Collection : Surface Sciences Importance : 280 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-387-58415-7 Note générale : Prefaces Contents Contributors Subject Index Catégories : Chimie des surfaces Microscopie tunnel à balayage Surfaces (physique) Surfaces (physique):Propriétés optiques Index. décimale : 681.4 Instruments d'optique : lunettes, télescopes, microscopes Résumé : Introduction The Rise of Local Probe Methods STM on Metals Adsorbate Covered Metal Surfaces and Reactions on Metal Surfaces STM on Semiconductors STM on Layered Materials Molecular Imaging by STM STM on Superconductors

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Scanning Tunneling Microscopy : 2., Further Applications and Related Scanning Techniques / H.-J. GÜNTHERODT

Titre : Scanning Tunneling Microscopy : 2., Further Applications and Related Scanning Techniques Type de document : texte imprimé Auteurs : H.-J. GÜNTHERODT, Éditeur scientifique ; R. WIESENDANGER, Éditeur scientifique Mention d'édition : 2nd ed. Editeur : Springer Verlag Année de publication : 1995 Collection : Surface Sciences Importance : 349 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-3-540-58589-3 Note générale : Preface Contents Contributors Subject Index Catégories : Microscopie tunnel à balayage Index. décimale : 681.4 Instruments d'optique : lunettes, télescopes, microscopes Résumé : Introduction STM in Electrochemistry The Scanning Tunneling Microscope in Biology Scanning Force Microscopy (SFM) Magnetic Force Microscopy (MFM) Related Scanning Techniques Nano-optics and Scanning Near-Field Optical Microscopy Surface Modification with a Scanning Proximity Probe Microscope Recent Developments

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Scanning Tunneling Microscopy : 3., Theory of STM and Related Scanning Probe Methods / H.-J. GÜNTHERODT

Titre : Scanning Tunneling Microscopy : 3., Theory of STM and Related Scanning Probe Methods Type de document : texte imprimé Auteurs : H.-J. GÜNTHERODT, Éditeur scientifique ; R. WIESENDANGER, Éditeur scientifique Mention d'édition : 2nd ed. Editeur : Springer Verlag Année de publication : 1996 Collection : Surface Sciences Importance : 402 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-3-540-60824-0 Note générale : Prefaces Contents Contributors Subject Index Catégories : Microscopie tunnel à balayage Index. décimale : 681.4 Instruments d'optique : lunettes, télescopes, microscopes Résumé : Introduction STM Imaging of Single-Atom Adsorbates on Metal The Scattering Theoretical Approach to the Scanning Tunneling Microscope Spectroscopic Information in Scanning Tunneling Microscopy The Role of Tip Atomic and Electronic Structure in Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy Bohm Trajectories and the Tunneling Time Problem Unified Perturbation Theory for STM and SFM Theory of Tip-Sample Interactions Consequences of Tip-Sample Interactions Theory of Contact Force Microscopy on Elastic Media Theory of Atomic-Scale Friction Theory of Non-contact Force Microscopy Recent Developments

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The Use of the Scanning Electron Microscope / J. W. S. HEARLE

Titre : The Use of the Scanning Electron Microscope Type de document : texte imprimé Auteurs : J. W. S. HEARLE, Auteur ; J. T. SPARROW, Auteur ; P. M. CROSS, Auteur Editeur : Pergamon Press, Ltd Année de publication : 1972 Importance : 278 p. Note générale : Contents List of Contributors List of Manufacturers and Suppliers Author Index Subject Index Catégories : Microscopie électronique à balayage Index. décimale : 681.4 Instruments d'optique : lunettes, télescopes, microscopes Résumé : Introduction to Scanning Electron Microscopy The Interaction of Electrons with Solids The Design and Use of the Scanning Electron Microscope Specimen Preparation Procedures for Using a Scanning Electron Microscope Applications to Metallurgy Applications to Fibres and Polymers Applications to Solid-State Electronics Application to Biological Materials Faults Dimensional Measurements Management of the SEM The Future of Scanning Electron Microscopy

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Traité de microscopie électronique 1 / Claude MAGNA

Titre : Traité de microscopie électronique 1 Type de document : texte imprimé Auteurs : Claude MAGNA, Marionnettiste ; Nina CARASSO ; Pierre FAVARD ; Charles FERT ; Agnès OBERLIN ; Adrien SAULNIER ; Cyril TCHOUBAR Editeur : Hermann et Cie Année de publication : 1961 Importance : 648 p. Note générale : Sommaire Préface Introduction Avant-propos Index des auteurs Index des matières Table des planches hors-texte Table des matières Catégories : Microscopie électronique Index. décimale : 681.4 Instruments d'optique : lunettes, télescopes, microscopes Résumé : Rappel de la théorie de l'optique électronique à l'approximation de Gauss Instrumentation : Théorie et pratique Observation directe de la surface d'un échantillon massif en microscopie électronique Interférences, diffraction en optique électronique et leurs applications à la microscopie Introduction générale à la microscopie et la diffraction électroniques dans l'étude des solides Notions sur la diffraction électronique Généralités sur les techniques de préparation des objets Cristallographie Etudes morphologiques et structurales Etude des phénomènes cinétiques

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