High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials / Frank ERNST

Titre : High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials Type de document : texte imprimé Auteurs : Frank ERNST ; Manfred RÜHLE Editeur : Springer Verlag Année de publication : 2003 Collection : Materials Science Importance : 440 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-3-540-41818-4 Note générale : Preface Contents Index Catégories : Matériaux Spectroscopie infrarouge Index. décimale : 620.1 Mécanique de l'ingénieur (mécanique appliquée) et matériaux Résumé : Microcharacterization of materials Electron scattering Structure determination by quantitive high-resolution electron microscopy (Q-HRTEM) Quantitative analytical transmission electron microscopy Advances in electron optics Tomography by atom probe field ion microscopy Scanning Tunneling Microscopy (STM) and Spectroscopy (STS), Atomic Force Microscopy (ATM) Multi-method high-resolution surface analysis with slow electrons From microcharacterization to macroscopic property : a pathway discussed on metal/ceramic composites Microstructural characterization of materials : an assessment

Exemplaires (1)

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00004409	620.1 ERN	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Sorti jusqu'au 15/05/2026

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