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Détail d'une collection
Collection Materials Science
- Editeur : Springer Verlag
- ISSN : pas d'ISSN
Documents disponibles dans la collection



Physics of New Materials / FUJITA, Francisco, E.
Titre : Physics of New Materials Type de document : texte imprimé Auteurs : FUJITA, Francisco, E., Editeur scientifique Mention d'édition : 2nd updated edition Editeur : Springer Verlag Année de publication : 1998 Collection : Materials Science Importance : 318 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-3-540-64143-8 Note générale : Prefaces
Contents
Subject IndexCatégories : Matériaux
Physique de l'état solide
Structure électroniqueIndex. décimale : 620.1 Mécanique de l'ingénieur (mécanique appliquée) et matériaux Résumé : Introductory survey
Electronic structure and properties of transition metal systems
Structure characterization of solid-state amorphized materials by X-ray and neutron diffraction
Nanophase materials : synthesis, structure and properties
Intercalation compounds of transition-metal dichalcogenides
Structural phase transformation
The place of atomic order in the physics of solids and in metallurgy
Usefulness of electron microscopy
Mössbauer spectroscopy in materials science
Further progressExemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00004464 620.1 FUJ Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Disponible High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials / Frank ERNST
Titre : High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials Type de document : texte imprimé Auteurs : Frank ERNST ; Manfred RÜHLE Editeur : Springer Verlag Année de publication : 2003 Collection : Materials Science Importance : 440 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-3-540-41818-4 Note générale : Preface
Contents
IndexCatégories : Matériaux
Spectroscopie infrarougeIndex. décimale : 620.1 Mécanique de l'ingénieur (mécanique appliquée) et matériaux Résumé : Microcharacterization of materials
Electron scattering
Structure determination by quantitive high-resolution electron microscopy (Q-HRTEM)
Quantitative analytical transmission electron microscopy
Advances in electron optics
Tomography by atom probe field ion microscopy
Scanning Tunneling Microscopy (STM) and Spectroscopy (STS), Atomic Force Microscopy (ATM)
Multi-method high-resolution surface analysis with slow electrons
From microcharacterization to macroscopic property : a pathway discussed on metal/ceramic composites
Microstructural characterization of materials : an assessmentExemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00004409 620.1 ERN Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 600 - Sciences appliquées - Technologie Sorti jusqu'au 15/06/2023 Dislocation Dynamics and Plasticity / T. SUZUKI
Titre : Dislocation Dynamics and Plasticity Type de document : texte imprimé Auteurs : T. SUZUKI ; S. TAKEUCHI ; H. YOSHINAGA Editeur : Springer Verlag Année de publication : 1991 Collection : Materials Science num. 12 Importance : 228 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-387-52693-5 Note générale : Preface
Contents
References
Subject IndexCatégories : Déformations (mécanique)
Dislocations dans les cristaux
Dislocations dans les métaux
PlasticitéIndex. décimale : 531.38 Constantes élastiques, contraintes, déformation, élasticité Résumé : Dislocations and Their Fundamental Properties
Motion of Dislocations in Soft Metals
Dislocation Motion in the Field of a Random Distribution of Point Obstacles : Solution Hardening
Dislocation Dynamics and Strength of Crystalline Materials
Dislocation Motion Controlled by the Peierls Mechanism
Dislocation Motion in Semiconducting Crystals
High-Temperature Deformation Mechanism in Metals and Alloys
High-Temperature Deformation Mechanism in Composite MaterialsExemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00004452 531.38 SUZ Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 500 - Sciences - Mathématiques Disponible