Dislocation Dynamics and Plasticity / T. SUZUKI

Titre : Dislocation Dynamics and Plasticity Type de document : texte imprimé Auteurs : T. SUZUKI ; S. TAKEUCHI ; H. YOSHINAGA Editeur : Springer Verlag Année de publication : 1991 Collection : Materials Science num. 12 Importance : 228 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-387-52693-5 Note générale : Preface Contents References Subject Index Catégories : Déformations (mécanique) Dislocations dans les cristaux Dislocations dans les métaux Plasticité Index. décimale : 531.38 Constantes élastiques, contraintes, déformation, élasticité Résumé : Dislocations and Their Fundamental Properties Motion of Dislocations in Soft Metals Dislocation Motion in the Field of a Random Distribution of Point Obstacles : Solution Hardening Dislocation Dynamics and Strength of Crystalline Materials Dislocation Motion Controlled by the Peierls Mechanism Dislocation Motion in Semiconducting Crystals High-Temperature Deformation Mechanism in Metals and Alloys High-Temperature Deformation Mechanism in Composite Materials

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B00004452	531.38 SUZ	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	500 - Sciences - Mathématiques	Disponible

High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials / Frank ERNST

Titre : High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials Type de document : texte imprimé Auteurs : Frank ERNST ; Manfred RÜHLE Editeur : Springer Verlag Année de publication : 2003 Collection : Materials Science Importance : 440 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-3-540-41818-4 Note générale : Preface Contents Index Catégories : Matériaux Spectroscopie infrarouge Index. décimale : 620.1 Mécanique de l'ingénieur (mécanique appliquée) et matériaux Résumé : Microcharacterization of materials Electron scattering Structure determination by quantitive high-resolution electron microscopy (Q-HRTEM) Quantitative analytical transmission electron microscopy Advances in electron optics Tomography by atom probe field ion microscopy Scanning Tunneling Microscopy (STM) and Spectroscopy (STS), Atomic Force Microscopy (ATM) Multi-method high-resolution surface analysis with slow electrons From microcharacterization to macroscopic property : a pathway discussed on metal/ceramic composites Microstructural characterization of materials : an assessment

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B00004409	620.1 ERN	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Sorti jusqu'au 15/05/2026

Physics of New Materials / FUJITA, Francisco, E.

Titre : Physics of New Materials Type de document : texte imprimé Auteurs : FUJITA, Francisco, E., Éditeur scientifique Mention d'édition : 2nd updated edition Editeur : Springer Verlag Année de publication : 1998 Collection : Materials Science Importance : 318 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-3-540-64143-8 Note générale : Prefaces Contents Subject Index Catégories : Matériaux Physique de l'état solide Structure électronique Index. décimale : 620.1 Mécanique de l'ingénieur (mécanique appliquée) et matériaux Résumé : Introductory survey Electronic structure and properties of transition metal systems Structure characterization of solid-state amorphized materials by X-ray and neutron diffraction Nanophase materials : synthesis, structure and properties Intercalation compounds of transition-metal dichalcogenides Structural phase transformation The place of atomic order in the physics of solids and in metallurgy Usefulness of electron microscopy Mössbauer spectroscopy in materials science Further progress

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B00004464	620.1 FUJ	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Disponible

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