Documents disponibles écrits par cet auteur

Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins / René GUINEBRETIERE

Titre : Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins Type de document : texte imprimé Auteurs : René GUINEBRETIERE Editeur : Hermès Science Publications Année de publication : 2002 Importance : 287 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-0557-4 Note générale : Table des matières Avant-propos Bibliographie Index Catégories : :Rayons X:Diffraction Polycristaux Radiocristallographie Rayons X Index. décimale : 548 Cristallographie Résumé : ELEMENTS THEORIQUES DE BASE, INSTRUMENTATION ET EXPLOITATION USUELLE DES RESULTATS Théorie cinématique et géométrique de la diffraction des rayons X Instrumentation en diffraction des rayons X Traitement des données, extraction de l'information Exploitation des résultats ANALYSE MICROSTRUCTURALE Diffusion et diffraction par des cristaux contenant des défauts Etude microstructurale d'échantillons polycristallins d'orientation aléatoire Etude microstructurale de couches minces

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00004913	548 GUI	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	Sciences - Mathématiques	Sorti jusqu'au 15/06/2023

Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins / René GUINEBRETIERE

Titre : Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins Type de document : texte imprimé Auteurs : René GUINEBRETIERE Mention d'édition : 2e éd. revue & augmentée Editeur : Hermès Science Publications Année de publication : 2006 Importance : 361 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-1238-1 Note générale : Table des matières Introduction historique : découverte des rayons X et permiers travaux de radiocristallographie Bibliographie Index Catégories : :Rayons X:Diffraction Polycristaux Radiocristallographie Rayons X Index. décimale : 548 Cristallographie Résumé : ELEMENTS THEORIQUES DE BASE, INSTRUMENTATION ET EXPLOITATION USUELLE DES RESULTATS Théorie cinématique et géométrique de la diffraction des rayons X Instrumentation en diffraction des rayons X Traitement des données, extraction de l'information Exploitation des résultats ANALYSE MICROSTRUCTURALE Diffusion et diffraction par des cristaux contenant des défauts Etude microstructurale d'échantillons polycristallins d'orientation aléatoire Etude microstructurale de couches minces

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00007569	548 GUI	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	Sciences - Mathématiques	Disponible
B00007570	548 GUI	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	Sciences - Mathématiques	Disponible

Rayons X et matière : RX 2006 / Philippe GOUDEAU

Titre : Rayons X et matière : RX 2006 Type de document : symposium Auteurs : Philippe GOUDEAU, Marionnettiste ; René GUINEBRETIERE Editeur : Hermès Science Publications Année de publication : 2006 Importance : 298 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-1385-2 Note générale : Liste des auteurs Table des matières Préface Catégories : :Rayons X:Applications industrielles :Rayons X:Diffraction Rayons X Spectroscopie des rayons X Index. décimale : 539.72 Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques Résumé : Systèmes optiques pour la définition du faisceau X Applications des différents types de détecteurs à la diffraction des rayons X pour l'analyse structurale des matériaux La diffraction résolue en temps : un outil indispensable pour déterminer les mécanismes des réactions auto-entretenues Diffraction des rayons X et analyse quantitative des phases. Applications in situ et sur site dans les industries de traitement des minerais Les contraintes résiduelles : d'où viennent-elles ? Comment les caractériser ? Evaluation des déformations induites par les contraintes thermiques dans des composants électroniques par diffraction des rayons X Etude des microstructures par diffusion de rayonnements Caractérisation microstructurale de poudres nanocristallines par diffraction des rayons X : Approches traditionnelles et modélisations Quelques exemples de diffraction des rayons X dans les polymères Etude par diffraction des rayons X de la microstructure de couches épitaxiées imparfaites

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00007575	539.72 / 2006	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS RÉSERVÉ	Symposia [Congrès PMM et Fluides]	Exclu du prêt