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Détail de l'auteur
Auteur René GUINEBRETIERE
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Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins / René GUINEBRETIERE
Titre : Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins Type de document : texte imprimé Auteurs : René GUINEBRETIERE Editeur : Hermès Science Publications Année de publication : 2002 Importance : 287 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-0557-4 Note générale : Table des matières
Avant-propos
Bibliographie
IndexCatégories : :Rayons X:Diffraction
Polycristaux
Radiocristallographie
Rayons XIndex. décimale : 548 Cristallographie Résumé : ELEMENTS THEORIQUES DE BASE, INSTRUMENTATION ET EXPLOITATION USUELLE DES RESULTATS
Théorie cinématique et géométrique de la diffraction des rayons X
Instrumentation en diffraction des rayons X
Traitement des données, extraction de l'information
Exploitation des résultats
ANALYSE MICROSTRUCTURALE
Diffusion et diffraction par des cristaux contenant des défauts
Etude microstructurale d'échantillons polycristallins d'orientation aléatoire
Etude microstructurale de couches mincesExemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00004913 548 GUI Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE Sciences - Mathématiques Sorti jusqu'au 15/06/2023 Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins / René GUINEBRETIERE
Titre : Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins Type de document : texte imprimé Auteurs : René GUINEBRETIERE Mention d'édition : 2e éd. revue & augmentée Editeur : Hermès Science Publications Année de publication : 2006 Importance : 361 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-1238-1 Note générale : Table des matières
Introduction historique : découverte des rayons X et permiers travaux de radiocristallographie
Bibliographie
IndexCatégories : :Rayons X:Diffraction
Polycristaux
Radiocristallographie
Rayons XIndex. décimale : 548 Cristallographie Résumé : ELEMENTS THEORIQUES DE BASE, INSTRUMENTATION ET EXPLOITATION USUELLE DES RESULTATS
Théorie cinématique et géométrique de la diffraction des rayons X
Instrumentation en diffraction des rayons X
Traitement des données, extraction de l'information
Exploitation des résultats
ANALYSE MICROSTRUCTURALE
Diffusion et diffraction par des cristaux contenant des défauts
Etude microstructurale d'échantillons polycristallins d'orientation aléatoire
Etude microstructurale de couches mincesExemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00007569 548 GUI Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE Sciences - Mathématiques Disponible B00007570 548 GUI Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE Sciences - Mathématiques Disponible Rayons X et matière : RX 2006 / Philippe GOUDEAU
Titre : Rayons X et matière : RX 2006 Type de document : symposium Auteurs : Philippe GOUDEAU, Marionnettiste ; René GUINEBRETIERE Editeur : Hermès Science Publications Année de publication : 2006 Importance : 298 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-1385-2 Note générale : Liste des auteurs
Table des matières
PréfaceCatégories : :Rayons X:Applications industrielles
:Rayons X:Diffraction
Rayons X
Spectroscopie des rayons XIndex. décimale : 539.72 Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques Résumé : Systèmes optiques pour la définition du faisceau X
Applications des différents types de détecteurs à la diffraction des rayons X pour l'analyse structurale des matériaux
La diffraction résolue en temps : un outil indispensable pour déterminer les mécanismes des réactions auto-entretenues
Diffraction des rayons X et analyse quantitative des phases. Applications in situ et sur site dans les industries de traitement des minerais
Les contraintes résiduelles : d'où viennent-elles ? Comment les caractériser ?
Evaluation des déformations induites par les contraintes thermiques dans des composants électroniques par diffraction des rayons X
Etude des microstructures par diffusion de rayonnements
Caractérisation microstructurale de poudres nanocristallines par diffraction des rayons X : Approches traditionnelles et modélisations
Quelques exemples de diffraction des rayons X dans les polymères
Etude par diffraction des rayons X de la microstructure de couches épitaxiées imparfaitesExemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00007575 539.72 / 2006 Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS RÉSERVÉ Symposia [Congrès PMM et Fluides] Exclu du prêt