Titre : | Rayons X et matière : RX 2006 |
Type de document : | symposium |
Auteurs : | Philippe GOUDEAU, Marionnettiste ; René GUINEBRETIERE |
Editeur : | Hermès Science Publications |
Année de publication : | 2006 |
Importance : | 298 p. |
ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-7462-1385-2 |
Note générale : | Liste des auteurs
Table des matières
Préface |
Catégories : | :Rayons X:Applications industrielles :Rayons X:Diffraction Rayons X Spectroscopie des rayons X
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Index. décimale : | 539.72 Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques |
Résumé : | Systèmes optiques pour la définition du faisceau X
Applications des différents types de détecteurs à la diffraction des rayons X pour l'analyse structurale des matériaux
La diffraction résolue en temps : un outil indispensable pour déterminer les mécanismes des réactions auto-entretenues
Diffraction des rayons X et analyse quantitative des phases. Applications in situ et sur site dans les industries de traitement des minerais
Les contraintes résiduelles : d'où viennent-elles ? Comment les caractériser ?
Evaluation des déformations induites par les contraintes thermiques dans des composants électroniques par diffraction des rayons X
Etude des microstructures par diffusion de rayonnements
Caractérisation microstructurale de poudres nanocristallines par diffraction des rayons X : Approches traditionnelles et modélisations
Quelques exemples de diffraction des rayons X dans les polymères
Etude par diffraction des rayons X de la microstructure de couches épitaxiées imparfaites |