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Rayons X et matière : RX 2006 / Philippe GOUDEAU

Titre : Rayons X et matière : RX 2006 Type de document : symposium Auteurs : Philippe GOUDEAU, Marionnettiste ; René GUINEBRETIERE Editeur : Hermès Science Publications Année de publication : 2006 Importance : 298 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-1385-2 Note générale : Liste des auteurs Table des matières Préface Catégories : :Rayons X:Applications industrielles :Rayons X:Diffraction Rayons X Spectroscopie des rayons X Index. décimale : 539.72 Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques Résumé : Systèmes optiques pour la définition du faisceau X Applications des différents types de détecteurs à la diffraction des rayons X pour l'analyse structurale des matériaux La diffraction résolue en temps : un outil indispensable pour déterminer les mécanismes des réactions auto-entretenues Diffraction des rayons X et analyse quantitative des phases. Applications in situ et sur site dans les industries de traitement des minerais Les contraintes résiduelles : d'où viennent-elles ? Comment les caractériser ? Evaluation des déformations induites par les contraintes thermiques dans des composants électroniques par diffraction des rayons X Etude des microstructures par diffusion de rayonnements Caractérisation microstructurale de poudres nanocristallines par diffraction des rayons X : Approches traditionnelles et modélisations Quelques exemples de diffraction des rayons X dans les polymères Etude par diffraction des rayons X de la microstructure de couches épitaxiées imparfaites

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
B00007575	539.72 / 2006	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS RÉSERVÉ	Symposia [Congrès PMM et Fluides]	Exclu du prêt