Détail de l'indexation
539.72 : Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques 539 Physique moderne : physique moléculaire, atomique, nucléaire, quantique
539.1 Structure de la matière 539.143 539.19 539.2 Rayonnement 539.4 539.6 Physique moléculaire 539.7 Physique atomique et nucléaire 539.75 Réaction nucléaire. Radioactivité |
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10e Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse, 5-9 septembre 1983, Toulouse (France) : 45
Titre : 10e Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse, 5-9 septembre 1983, Toulouse (France) : 45 Type de document : symposium Editeur : Les Editions de Physique Année de publication : 1984 Collection : Journal de physique Importance : 925 p. Note générale : Préface
Introduction
Liste des participants
Liste des exposants
Table des matières
Index des auteursIndex. décimale : 539.72 Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00005191 539.72 / 1983 Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS RÉSERVÉ Symposia [Congrès PMM et Fluides] Exclu du prêt Méthodes physiques d'études des structures moléculaires : I. Méthodes optiques (absorption dans l'infra-rouge et ultra-violet, effet Raman, diffraction des rayons X) / R. GUY
Titre : Méthodes physiques d'études des structures moléculaires : I. Méthodes optiques (absorption dans l'infra-rouge et ultra-violet, effet Raman, diffraction des rayons X) Type de document : texte imprimé Auteurs : R. GUY ; P. LARUELLE ; A. BERTON Editeur : Société d'Edition d'Enseignement Supérieur (SEDES) Année de publication : 1951 Importance : 92 p. Note générale : Préface Catégories : Molécules
Spectroscopie moléculaireIndex. décimale : 539.72 Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00002810 539.72 GUY Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 500 - Sciences - Mathématiques Disponible Non-Destructive Testing. Proceedings of the 12th World Conference, Amsterdam, The Netherlands, April 23-28, 1989 vol. 1 / J. BOOGAARD
Titre : Non-Destructive Testing. Proceedings of the 12th World Conference, Amsterdam, The Netherlands, April 23-28, 1989 vol. 1 Type de document : symposium Auteurs : J. BOOGAARD, Éditeur scientifique ; VAN DIJK, G., M., Éditeur scientifique Editeur : Elsevier Science Publishers, Ltd Année de publication : 1989 Importance : 865 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-444-87450-4 Note générale : Foreword
Table of Contents
Officials of the 12th WCNDT
Subject Indexes
Author IndexIndex. décimale : 539.72 Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00005203 539.72 / 1989 Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS RÉSERVÉ Symposia [Congrès PMM et Fluides] Exclu du prêt Non-Destructive Testing. Proceedings of the 12th World Conference, Amsterdam, The Netherlands, April 23-28, 1989 vol. 2 / J. BOOGAARD
Titre : Non-Destructive Testing. Proceedings of the 12th World Conference, Amsterdam, The Netherlands, April 23-28, 1989 vol. 2 Type de document : symposium Auteurs : J. BOOGAARD, Éditeur scientifique ; VAN DIJK, G., M., Éditeur scientifique Editeur : Elsevier Science Publishers, Ltd Année de publication : 1989 Importance : pp. 871-1900 ISBN/ISSN/EAN : 978-0-444-87450-4 Note générale : Foreword
Table of ContentsIndex. décimale : 539.72 Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B0005233 539.72 / 1989 Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS RÉSERVÉ Symposia [Congrès PMM et Fluides] Exclu du prêt Quantitative X-Ray Diffractometry / ZEVIN, Lev., S.
Titre : Quantitative X-Ray Diffractometry Type de document : texte imprimé Auteurs : ZEVIN, Lev., S. ; Giora KIMMEL Editeur : Springer Verlag Année de publication : 1995 Importance : 372 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-387-94541-5 Note générale : Preface
Acknowledgements
Contents
References
IndexCatégories : Rayons X
Rayons X:Diffraction
Rayons X:Diffraction:Applications industriellesIndex. décimale : 539.72 Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques Résumé : Introduction
Physical Basic
Geometric Aspects of X-Ray Diffractometry
Methodology of Quantitative Phase Analysis
Practical Aspects of Quantitative Phase Analysis
Industrial ApplicationsExemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00004428 539.72 ZEV Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 500 - Sciences - Mathématiques Disponible Radiologie : Bases physiques niveau 2 / J. RIVENEZ
Titre : Radiologie : Bases physiques niveau 2 Type de document : texte imprimé Auteurs : J. RIVENEZ ; J. GARBARZ Editeur : Centre Technique des Industries Mécaniques (CETIM) Année de publication : 1988 Importance : 55 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-85400-123-5 Note générale : Cahier de formation
Sommaire
IntroductionCatégories : Radiologie
Rayonnements
Rayons gamma
Rayons XIndex. décimale : 539.72 Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques Résumé : Les ondes électromagnétiques
Structure de l'atome
Production des rayons X
Radioactivité
Interaction entre matière et rayonnement
Principe de la détection des rayonnements X ou yExemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00004704 539.72 RIV Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 500 - Sciences - Mathématiques Disponible Rayons X et matière : RX 2006 / Philippe GOUDEAU
Titre : Rayons X et matière : RX 2006 Type de document : symposium Auteurs : Philippe GOUDEAU, Marionnettiste ; René GUINEBRETIERE Editeur : Hermès Science Publications Année de publication : 2006 Importance : 298 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-1385-2 Note générale : Liste des auteurs
Table des matières
PréfaceCatégories : Rayons X
Rayons X:Applications industrielles
Rayons X:Diffraction
Spectroscopie des rayons XIndex. décimale : 539.72 Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques Résumé : Systèmes optiques pour la définition du faisceau X
Applications des différents types de détecteurs à la diffraction des rayons X pour l'analyse structurale des matériaux
La diffraction résolue en temps : un outil indispensable pour déterminer les mécanismes des réactions auto-entretenues
Diffraction des rayons X et analyse quantitative des phases. Applications in situ et sur site dans les industries de traitement des minerais
Les contraintes résiduelles : d'où viennent-elles ? Comment les caractériser ?
Evaluation des déformations induites par les contraintes thermiques dans des composants électroniques par diffraction des rayons X
Etude des microstructures par diffusion de rayonnements
Caractérisation microstructurale de poudres nanocristallines par diffraction des rayons X : Approches traditionnelles et modélisations
Quelques exemples de diffraction des rayons X dans les polymères
Etude par diffraction des rayons X de la microstructure de couches épitaxiées imparfaitesExemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00007575 539.72 / 2006 Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS RÉSERVÉ Symposia [Congrès PMM et Fluides] Exclu du prêt Small particle statistics : An account of statiscal methods for the investigation of finely divided materials. With a guide to the experimental design of particle size determinations. / G. HERDAN
Titre : Small particle statistics : An account of statiscal methods for the investigation of finely divided materials. With a guide to the experimental design of particle size determinations. Type de document : texte imprimé Auteurs : G. HERDAN ; Mervyn Leslie SMITH Editeur : Elsevier Science Publishers, Ltd Année de publication : 1953 Importance : 520 p. Note générale : Preface
Acknowledgements
List of principal symbols
Contents
Author index
Subject indexCatégories : Particules (matière)
StatistiqueIndex. décimale : 539.72 Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques Résumé : THE DETERMINATION OF THE FINENESS OF SOLIDS
Particles in the sieve and sub-sieve size range
Some fundamental concepts of statistics
The units of particle statistics and the principles of particle size measurement
The distributions of particle size and their averages
Sampling procedures for particle size determinations
Some standard forms of the distribution function
Graphical representation
Statistical testing and analysis of differences between determination results
THE TECHNOLOGICAL IMPORTANCE OF THE FINENESS OF SOLIDS
Methods for ascertaining the relations between variable characteristics of materials
Testing the dependence of properties of materials upon particle size by correlation methods
Fundamental relations between particle size and other characteristics of materials as particulate matter
Physical and chemical properties of materials in their dependence upon characteristics of these materials as particulate universes
ATTAINMENT OF A SPECIFIED FINENESS AND OF HOMOGENEITY IN A SUBSTANCE
Attainment of a specified fineness
Attainment of homogeneity in coarse disperse systems (Industrial mixing)
The inhomogeneity of polymers
PRINCIPLES OF STATISTICS OF COARSE DISPERSE SYSTEMS
Principles of statistical theory of coarse disperse systems
Statistical design of investigations of particulate materials
EXPERIMENTAL DESIGN AND EXPERIMENTAL ERRORS OF PARTICLE SIZE DETERMINATION
Microscope method of determining size distribution
Sedimentation methods of determining particle size distribution
Permeability method
Photo-extinction method of determining surface area
Adsorption methods of determining surface areaExemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité B00002398 539.72 HER Ouvrage BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE 500 - Sciences - Mathématiques Disponible