3. Progress in Metal Physics / Bruce CHALMERS

Titre : Progress in Metal Physics Type de document : texte imprimé Auteurs : Bruce CHALMERS Editeur : Pergamon Press, Ltd Année de publication : 1952 Importance : 334 p. Note générale : Contents Foreword to Volume 1 Acknowledgments Name Index Subject Index Catégories : Cristallographie Cristaux Metallurgie physique Métaux:Effets de la température Rayons X Index. décimale : 548 Cristallographie Résumé : Cristallography of Transformations Properties of Metals at Low Temperatures Recent Advances in the Electron Theory of Metals Twinning Ferromagnetism Quatitative X-Ray Diffraction Observations on Strained Metal Aggregates Recrystallization and Grain Growth Structure of Crystal Boundaries

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An introduction to X-Ray Crystallography / M.M. WOOLFSON

Titre : An introduction to X-Ray Crystallography Type de document : texte imprimé Auteurs : M.M. WOOLFSON Editeur : Cambridge : Cambridge Univeristy Press Année de publication : 1970 Importance : 380 p. Note générale : Preface Contents Bibliography Index Catégories : Radiocristallographie Rayons X Index. décimale : 548 Cristallographie Résumé : The Geometry of the Crystalline State The Scattering of X-Rays Diffraction from a Crystal The Fourier Transform The Experimental Collection of Diffraction Data The Factors Affecting X-Ray Intensities The Determination of Space Groups The Determination of Crystal Structures Accuracy and Refinement Processes

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Analyse des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X et des neutrons / Alain LODINI

Titre : Analyse des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X et des neutrons Type de document : texte imprimé Auteurs : Alain LODINI ; Michel PERRIN Editeur : Commissariat à l'Energie Atomique (CEA) Année de publication : 1996 Importance : 276 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7272-0182-3 Note générale : Table des matières Préface Bibliographie Catégories : Contraintes résiduelles Neutrons Neutrons:Diffraction Rayons X Rayons X:Diffraction Résistance des matériaux Index. décimale : 620.11 Matériaux (propriétés, résistance)

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Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, électrons et neutrons. Spectrométrie des rayons X, électrons et ions. Microscopie électronique / Jean-Pierre EBERHART

Titre : Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, électrons et neutrons. Spectrométrie des rayons X, électrons et ions. Microscopie électronique Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Pierre EBERHART Editeur : Dunod Année de publication : 1997 Importance : 614 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-10-003367-6 Note générale : Table des matières Introduction Appendice Références bibliographiques Index Catégories : Cristallographie Matériaux Radiocristallographie Rayons X Rayons X:Diffraction Spectroscopie Index. décimale : 620.19 Autres matériaux

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Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, électrons et neutrons. Spectrométrie des rayons X, électrons et ions. Microscopie électronique / Jean-Pierre EBERHART

Titre : Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, électrons et neutrons. Spectrométrie des rayons X, électrons et ions. Microscopie électronique Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Pierre EBERHART Editeur : Dunod Année de publication : 1989 Importance : 614 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-04-018797-2 Note générale : Avant-propos Table des matières Introduction Appendices Références bibliographiques Index alphabétique Catégories : Cristallographie Electrons Microscopie électronique Radiocristallographie Rayons X Rayons X:Diffraction Spectroscopie Surfaces (technologie) Index. décimale : 620.11 Matériaux (propriétés, résistance)

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Caractérisation expérimentale et modélisation de l'état relaxé dans le polyamide 11 à hautes températures / Eléonore ROGUET

Titre : Caractérisation expérimentale et modélisation de l'état relaxé dans le polyamide 11 à hautes températures Type de document : thèse Auteurs : Eléonore ROGUET ; Jean-Claude GRANDIDIER, Directeur de thèse ; Sylvie CASTAGNET, Directeur de thèse ; LMPM ENSMA UMR CNRS 6617, Commanditaire ; Noëlle BILLON, Rapporteur ; Gérard VIGIER, Rapporteur ; Christian CUNAT, Examinateur ; Erwan VERRON, Examinateur ; Gilles HOCHSTETTER, Examinateur ; Sylvie TENCE-GIRAULT, Examinateur ; Hervé TRUMEL, Examinateur Importance : 236 p. Note générale : Remerciements Table des matières Notations Introduction Annexes Références bibliographiques Résumé Mots clés Catégories : Calorimétrie différentielle à balayage Contraintes (mécanique) Matériaux Matériaux:Effets des hautes températures Matériaux:Essais Matériaux:Propriétés mécaniques Polyamides Rayons X Torsion (mécanique) Index. décimale : TH-06 Résumé : BIBLIOGRAPHIE Quelques caractéristiques des semi-cristallins Comportement mécanique d'un semi-cristallin au-dessus de Tg Modélisation du comportement mécanique des semi-cristallins CONDITIONS EXPERIMENTALES Matériau Protocole thermique Eprouvettes Essais expérimentaux CARACTERISATION D'UN ETAT RELAXE ET MECANISMES ASSOCIES Existence d'un état de référence Nature de l'état de référence Synthèse de l'étude expérimentale MODELISATION DU COMPORTEMENT DU PA11 A HAUTES TEMPERATURES Validité de trois modèles de la littérature Modélisation du comportement du PA11 à hautes températures CONCLUSIONS ET PERSPECTIVES

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Cone Beam Computed Tomography / Chris, C. SHAW

Titre : Cone Beam Computed Tomography Type de document : texte imprimé Auteurs : Chris, C. SHAW, Auteur Editeur : CRC Press, Inc. Année de publication : 2014 Importance : 251 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-1-4398-4626-1 Note générale : Contents Series Preface Acknowledgments Editor Contributors Index Catégories : Imagerie médicale Rayons X Tomographie Index. décimale : 621.361 Spectroscopie industrielle Résumé : FUNDAMENTAL PRINCIPLES AND TECHNIQUES History of x-ray Computed Tomography Acquisition of Projection Images Reconstruction Algorithms Cone-Beam CT Image Quality Radiation Dose ADVANCED TECHNIQUES Image Simulation 3D Image Processing, Analysis, and Visualization Volume-of-Interest Imaging Four-Dimensional Cone Beam Computed Tomography Image Corrections for Scattered Radiation APPLICATIONS Multidetector Row CT Cone Beam Micro-CT for Small-Animal Research Cardiac Imaging C-arm CT in the Interventional Suite : Current Status and Future Directions Cone Beam CT : Transforming Radiation Treatment Guidance, Planning, and Monitoring Breast CT

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Cristallographie géométrique et radiocristallographie / Jean-Jacques ROUSSEAU

Titre : Cristallographie géométrique et radiocristallographie Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Jacques ROUSSEAU Editeur : Masson Année de publication : 1995 Collection : Enseignement de la physique Importance : 317 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-225-84990-9 Note générale : Table des matières Contents Avant-propos Historique Bibliographie Index alphabétique Catégories : Cristallographie Groupes spatiaux Radiocristallographie Rayons X Rayons X:Diffraction Réseaux cristallins Index. décimale : 548 Cristallographie

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Cristallography and Crystal Perfection Proceedings of a Symposium held in Madras 14-18 January 1963 and Organized by the University of Madras / RAMACHANDRAN, G., N.

Titre : Cristallography and Crystal Perfection Proceedings of a Symposium held in Madras 14-18 January 1963 and Organized by the University of Madras Type de document : symposium Auteurs : RAMACHANDRAN, G., N., Auteur Editeur : Academic Press, Inc. Année de publication : 1963 Importance : 374 p. Note générale : List of Contributors Preface Contents Author Index Catégories : Chimie Cristallographie Rayons X Index. décimale : 548 Cristallographie

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Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins / René GUINEBRETIERE

Titre : Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins Type de document : texte imprimé Auteurs : René GUINEBRETIERE Mention d'édition : 2e éd. revue & augmentée Editeur : Hermès Science Publications Année de publication : 2006 Importance : 361 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-1238-1 Note générale : Table des matières Introduction historique : découverte des rayons X et permiers travaux de radiocristallographie Bibliographie Index Catégories : Polycristaux Radiocristallographie Rayons X Rayons X:Diffraction Index. décimale : 548 Cristallographie Résumé : ELEMENTS THEORIQUES DE BASE, INSTRUMENTATION ET EXPLOITATION USUELLE DES RESULTATS Théorie cinématique et géométrique de la diffraction des rayons X Instrumentation en diffraction des rayons X Traitement des données, extraction de l'information Exploitation des résultats ANALYSE MICROSTRUCTURALE Diffusion et diffraction par des cristaux contenant des défauts Etude microstructurale d'échantillons polycristallins d'orientation aléatoire Etude microstructurale de couches minces

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Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins / René GUINEBRETIERE

Titre : Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins Type de document : texte imprimé Auteurs : René GUINEBRETIERE Editeur : Hermès Science Publications Année de publication : 2002 Importance : 287 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-0557-4 Note générale : Table des matières Avant-propos Bibliographie Index Catégories : Polycristaux Radiocristallographie Rayons X Rayons X:Diffraction Index. décimale : 548 Cristallographie Résumé : ELEMENTS THEORIQUES DE BASE, INSTRUMENTATION ET EXPLOITATION USUELLE DES RESULTATS Théorie cinématique et géométrique de la diffraction des rayons X Instrumentation en diffraction des rayons X Traitement des données, extraction de l'information Exploitation des résultats ANALYSE MICROSTRUCTURALE Diffusion et diffraction par des cristaux contenant des défauts Etude microstructurale d'échantillons polycristallins d'orientation aléatoire Etude microstructurale de couches minces

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Influence de la mise en forme et des traitements thermiques sur le polyamide 11 / Vincent GAUDEFROY

Titre : Influence de la mise en forme et des traitements thermiques sur le polyamide 11 Type de document : thèse Auteurs : Vincent GAUDEFROY ; André RIVIERE, Directeur de thèse ; Laurence CHOCINSKI-ARNAULT, Directeur de thèse ; LMPM ENSMA UMR CNRS 6617, Commanditaire ; Roland SEGUELA, Rapporteur ; Bernard MONASSE, Rapporteur ; Jacques VERDU, Examinateur ; Jean-Louis GACOUGNOLLE, Examinateur ; Laurence CHOCINSKI-ARNAULT, Examinateur ; André RIVIERE, Examinateur ; Nicolas AMOUROUX, Examinateur Importance : 187 p. Note générale : Table des matières Introduction Conclusion générale Annexes Références bibliographiques Résumé/Abstract Mots clés Catégories : Calorimétrie Liaisons hydrogène Polyamides Polymères Polymorphisme (cristallographie) Rayons X Rayons X:Diffraction Traitement thermique Index. décimale : TH-03 Résumé : GENERALITES SUR LES POLYMERES ET LE POLYAMIDE 11 Polymères à l'état fondu Cristallisation Structure après cristallisation Structure et comportement de l'amorphe Structure cristalline du PA 11 Comportement mécanique du PA 11 à 25°C MATERIAUX TECHNIQUES DE CARACTERISATION Matériaux étudiés Séchage et traitements thermiques Techniques de caractérisation INFLUENCE DE LA MISE EN FORME SUR LE POLYAMIDE 11 Moulage par compression Extrusion CAST : comparaison avec le moulage par compression EFFETS DES RECUITS ENTRE Tg ET Tf Plaque moulée Film extrudé DISCUSSION Mesure du taux de cristallinité Origine supposée de la baisse du taux de cristallinité Passage de la phase "delta" ' à la phase "delta" Différences entre les recuits à T<150° C et à 180° C

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Modern Techniques in Metallography / D. G. BRANDON

Titre : Modern Techniques in Metallography Type de document : texte imprimé Auteurs : D. G. BRANDON, Auteur Editeur : Butterworths & Co. (Publishers), Ltd. Année de publication : 1966 Importance : 266 p. Note générale : Contents Preface Acknowledgements Bibliography Index Catégories : Electrons Métallographie:Technique Microanalyse par émission X Rayons X Index. décimale : 669.95 Métallographie Résumé : THE STUDY OF SURFACE STRUCTURE Historical Introduction Classical Optical Metallography The Enhancement of Contrast in the Optical Microscope Quantitative Surface Topography The Improvement of Resolution in Optical Microscopy Electron Microscopy of Surfaces THE STUDY OF BULK STRUCTURE Introduction Transmission of Radiation Through Matter X-ray Absorption Microscopy (Microradiography) X-ray Diffraction Microscopy Thin-film Electron Microscopy MICROANALYSIS Absorption Analysis Fluorescence Analysis Electron-probe Microanalysis Secondary Ion Emission Analysis FIELD EMISSION AND FIELD-ION MICROSCOPY Field Emission Microscopy Field-ion Microscopy QUANTITATIVE METALLOGRAPHY Summary of Metallographic Techniques Statistics of Image Observation and Recording Quantitative Analysis of Microstructure Automatic Analysis

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Quantitative X-Ray Diffractometry / ZEVIN, Lev., S.

Titre : Quantitative X-Ray Diffractometry Type de document : texte imprimé Auteurs : ZEVIN, Lev., S. ; Giora KIMMEL Editeur : Springer Verlag Année de publication : 1995 Importance : 372 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-387-94541-5 Note générale : Preface Acknowledgements Contents References Index Catégories : Rayons X Rayons X:Diffraction Rayons X:Diffraction:Applications industrielles Index. décimale : 539.72 Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques Résumé : Introduction Physical Basic Geometric Aspects of X-Ray Diffractometry Methodology of Quantitative Phase Analysis Practical Aspects of Quantitative Phase Analysis Industrial Applications

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Radiologie : Bases physiques niveau 2 / J. RIVENEZ

Titre : Radiologie : Bases physiques niveau 2 Type de document : texte imprimé Auteurs : J. RIVENEZ ; J. GARBARZ Editeur : Centre Technique des Industries Mécaniques (CETIM) Année de publication : 1988 Importance : 55 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-85400-123-5 Note générale : Cahier de formation Sommaire Introduction Catégories : Radiologie Rayonnements Rayons gamma Rayons X Index. décimale : 539.72 Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques Résumé : Les ondes électromagnétiques Structure de l'atome Production des rayons X Radioactivité Interaction entre matière et rayonnement Principe de la détection des rayonnements X ou y

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Les rayons X et leurs applications / Henri BRASSEUR

Titre : Les rayons X et leurs applications Type de document : texte imprimé Auteurs : Henri BRASSEUR Editeur : Editions Desoer Année de publication : 1945 Importance : 366 p. Note générale : Préface Table des matières Exercices Catégories : Rayons X Index. décimale : 548 Cristallographie Résumé : LES RAYONS X La découverte des rayons X Production des rayons X Propriétés des rayons X La loi de Bragg et la spectroscopie élémentaire des rayons X LES APPLICATIONS DES RAYONS X Méthodes par émission Méthodes par absorption Méthodes par diffraction

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Rayons X et matière : RX 2006 / Philippe GOUDEAU

Titre : Rayons X et matière : RX 2006 Type de document : symposium Auteurs : Philippe GOUDEAU, Marionnettiste ; René GUINEBRETIERE Editeur : Hermès Science Publications Année de publication : 2006 Importance : 298 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-1385-2 Note générale : Liste des auteurs Table des matières Préface Catégories : Rayons X Rayons X:Applications industrielles Rayons X:Diffraction Spectroscopie des rayons X Index. décimale : 539.72 Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques Résumé : Systèmes optiques pour la définition du faisceau X Applications des différents types de détecteurs à la diffraction des rayons X pour l'analyse structurale des matériaux La diffraction résolue en temps : un outil indispensable pour déterminer les mécanismes des réactions auto-entretenues Diffraction des rayons X et analyse quantitative des phases. Applications in situ et sur site dans les industries de traitement des minerais Les contraintes résiduelles : d'où viennent-elles ? Comment les caractériser ? Evaluation des déformations induites par les contraintes thermiques dans des composants électroniques par diffraction des rayons X Etude des microstructures par diffusion de rayonnements Caractérisation microstructurale de poudres nanocristallines par diffraction des rayons X : Approches traditionnelles et modélisations Quelques exemples de diffraction des rayons X dans les polymères Etude par diffraction des rayons X de la microstructure de couches épitaxiées imparfaites

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Single Crystal Diffractometry / ARNDT, U., W.

Titre : Single Crystal Diffractometry Type de document : texte imprimé Auteurs : ARNDT, U., W. ; WILLIS, B., T., M. Editeur : Cambridge : Cambridge Univeristy Press Année de publication : 1966 Importance : 331 p. Note générale : Contents Preface Acknowledgements Appendix References Index Catégories : Cristallographie Rayons X Rayons X:Diffraction Réfractométrie Index. décimale : 548 Cristallographie

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Tables permettant le dépouillement des diagrammes de rayons X et abaques de réglage des monochromateurs à lame courbe / A.J. ROSE

Titre : Tables permettant le dépouillement des diagrammes de rayons X et abaques de réglage des monochromateurs à lame courbe Type de document : texte imprimé Auteurs : A.J. ROSE Editeur : Editions du Centre national de la Recherche Scientifique (CNRS) Année de publication : 1957 Importance : 141 p. Catégories : Rayons X Index. décimale : 548 Cristallographie

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Techniques générales du laboratoire de physique 3 / J. SURUGUE

Titre : Techniques générales du laboratoire de physique 3 Type de document : texte imprimé Auteurs : J. SURUGUE, Éditeur scientifique Mention d'édition : 2e édition Editeur : Editions du Centre national de la Recherche Scientifique (CNRS) Année de publication : 1965 Importance : 326 p. Note générale : Sommaire Bibliographie Index alphabétique du volume III Catégories : Matériaux céramiques Photographie scientifique Physique Rayons X Verre Index. décimale : 530 Physique Résumé : Les rayons X Les céramiques dans les techniques du laboratoire Le verre au laboratoire Les techniques photographiques

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The Interpretation of X-Ray Diffraction Photographs / HENRY, N., F., M.

Titre : The Interpretation of X-Ray Diffraction Photographs Type de document : texte imprimé Auteurs : HENRY, N., F., M. ; H. LIPSON ; WOOSTER, W., A. Editeur : Macmillan Publishing Company Année de publication : 1960 Importance : 282 p. Note générale : Preface Contents Note Appendixes Tables Subject Index References and Name Index Catégories : Rayons X Rayons X:Diffraction Traitement d'images Index. décimale : 548 Cristallographie

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Traité des matériaux : 3., Caractérisation expérimentale des matériaux vol. 2 / Jean-Luc MARTIN

Titre : Traité des matériaux : 3., Caractérisation expérimentale des matériaux vol. 2 Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Luc MARTIN ; Armand GEORGE Editeur : Presses Polytechniques et Universitaires Romandes (PPUR) Année de publication : 1998 Importance : 367 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-88074-364-2 Note générale : Présentation du Traité des matériaux Avant-propos Annexes Liste des symboles Index Biographie des auteurs Catégories : Electrons Electrons:Diffraction Electrons:Diffusion Matériaux Matériaux:Analyse Microanalyse par émission X Microstructure (physique) Neutrons Neutrons:Diffraction Neutrons:Diffusion Rayons X Rayons X:Diffraction Rayons X:Diffusion Index. décimale : 620.1 Mécanique de l'ingénieur (mécanique appliquée) et matériaux Résumé : PHYSIQUE DES INTERACTIONS RAYONNEMENT-MATIERE Généralités sur les interactions rayonnement-matière Diffusion cohérente des rayonnements par les cristaux Propagation d'ondes dans les cristaux CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR RAYONS X Sources de rayons X, conditionnement et analyse des rayons X Méthodes de caractérisation structurale par diffusion et diffraction des rayons X Topographie aux rayons X CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR FAISCEAUX D'ELECTRONS Microscope électronique à transmission Informations fournies par le microscope électronique à transmission Microscopeélectronique à balayage Microanalyse par faisceaux d'électrons CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR FAISCEAUX DE NEUTRONS Diffusion et diffraction des neutrons EXEMPLE DE CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR RAYONS X ET ELECTRONS Etude de la microstructure d'un revêtement réalisé par projection thermique

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B00006532	620.1 MAR	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Disponible
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X-Ray Scattering of Synthetic Polymers / BALTA-CALLEJA, F., J.

Titre : X-Ray Scattering of Synthetic Polymers Type de document : texte imprimé Auteurs : BALTA-CALLEJA, F., J. ; VONK, C., G. Editeur : Elsevier Science Publishers, Ltd Année de publication : 1989 Collection : Polymer Science Library num. 8 Importance : 317 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-444-87385-9 Note générale : Preface Contents Author Index Subject Index Catégories : Polymères Polymères:Analyse Radiocristallographie Rayons X Rayons X:Diffraction Index. décimale : 620.192 Polymères, plastiques Résumé : The theory of coherent X-ray scattering Experimental techniques Lattice constants Line breadth measurements : paracrystallinity The X-ray determination of the crystallinity in polymers The X-ray determination of the orientation in polymers The small-angle X-ray scattering of polymers

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B00004136	620.192 BAL	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Sorti jusqu'au 15/05/2026

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