Analyse des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X et des neutrons / Alain LODINI

Titre : Analyse des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X et des neutrons Type de document : texte imprimé Auteurs : Alain LODINI ; Michel PERRIN Editeur : Commissariat à l'Energie Atomique (CEA) Année de publication : 1996 Importance : 276 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7272-0182-3 Note générale : Table des matières Préface Bibliographie Catégories : Contraintes résiduelles Neutrons Neutrons:Diffraction Rayons X Rayons X:Diffraction Résistance des matériaux Index. décimale : 620.11 Matériaux (propriétés, résistance)

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Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, électrons et neutrons. Spectrométrie des rayons X, électrons et ions. Microscopie électronique / Jean-Pierre EBERHART

Titre : Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, électrons et neutrons. Spectrométrie des rayons X, électrons et ions. Microscopie électronique Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Pierre EBERHART Editeur : Dunod Année de publication : 1997 Importance : 614 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-10-003367-6 Note générale : Table des matières Introduction Appendice Références bibliographiques Index Catégories : Cristallographie Matériaux Radiocristallographie Rayons X Rayons X:Diffraction Spectroscopie Index. décimale : 620.19 Autres matériaux

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Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, électrons et neutrons. Spectrométrie des rayons X, électrons et ions. Microscopie électronique / Jean-Pierre EBERHART

Titre : Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, électrons et neutrons. Spectrométrie des rayons X, électrons et ions. Microscopie électronique Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Pierre EBERHART Editeur : Dunod Année de publication : 1989 Importance : 614 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-04-018797-2 Note générale : Avant-propos Table des matières Introduction Appendices Références bibliographiques Index alphabétique Catégories : Cristallographie Electrons Microscopie électronique Radiocristallographie Rayons X Rayons X:Diffraction Spectroscopie Surfaces (technologie) Index. décimale : 620.11 Matériaux (propriétés, résistance)

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Cristallographie géométrique et radiocristallographie / Jean-Jacques ROUSSEAU

Titre : Cristallographie géométrique et radiocristallographie Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Jacques ROUSSEAU Editeur : Masson Année de publication : 1995 Collection : Enseignement de la physique Importance : 317 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-225-84990-9 Note générale : Table des matières Contents Avant-propos Historique Bibliographie Index alphabétique Catégories : Cristallographie Groupes spatiaux Radiocristallographie Rayons X Rayons X:Diffraction Réseaux cristallins Index. décimale : 548 Cristallographie

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Diffraction Gratings as Measuring Scales / J. GUILD

Titre : Diffraction Gratings as Measuring Scales : Practical Guide to the Metrological use of Moiré Fringes Type de document : texte imprimé Auteurs : J. GUILD, Auteur Editeur : Oxford University Press Année de publication : 1960 Importance : 211 p. Note générale : Preface Contents Appendix References Index Catégories : Interpolation Mesure Rayons X:Diffraction Spectroscopie Index. décimale : 535.8 Applications, spectroscopie Résumé : General Information Moiré Fringes Applied to Linear Measurement Fringe Counting Fringe Counters Fractional Interpolation The Gratings Application of Moiré Technique to Angular Measurements Photo Transistors Recent Developments

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Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins / René GUINEBRETIERE

Titre : Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins Type de document : texte imprimé Auteurs : René GUINEBRETIERE Editeur : Hermès Science Publications Année de publication : 2002 Importance : 287 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-0557-4 Note générale : Table des matières Avant-propos Bibliographie Index Catégories : Polycristaux Radiocristallographie Rayons X Rayons X:Diffraction Index. décimale : 548 Cristallographie Résumé : ELEMENTS THEORIQUES DE BASE, INSTRUMENTATION ET EXPLOITATION USUELLE DES RESULTATS Théorie cinématique et géométrique de la diffraction des rayons X Instrumentation en diffraction des rayons X Traitement des données, extraction de l'information Exploitation des résultats ANALYSE MICROSTRUCTURALE Diffusion et diffraction par des cristaux contenant des défauts Etude microstructurale d'échantillons polycristallins d'orientation aléatoire Etude microstructurale de couches minces

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Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins / René GUINEBRETIERE

Titre : Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins Type de document : texte imprimé Auteurs : René GUINEBRETIERE Mention d'édition : 2e éd. revue & augmentée Editeur : Hermès Science Publications Année de publication : 2006 Importance : 361 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-1238-1 Note générale : Table des matières Introduction historique : découverte des rayons X et permiers travaux de radiocristallographie Bibliographie Index Catégories : Polycristaux Radiocristallographie Rayons X Rayons X:Diffraction Index. décimale : 548 Cristallographie Résumé : ELEMENTS THEORIQUES DE BASE, INSTRUMENTATION ET EXPLOITATION USUELLE DES RESULTATS Théorie cinématique et géométrique de la diffraction des rayons X Instrumentation en diffraction des rayons X Traitement des données, extraction de l'information Exploitation des résultats ANALYSE MICROSTRUCTURALE Diffusion et diffraction par des cristaux contenant des défauts Etude microstructurale d'échantillons polycristallins d'orientation aléatoire Etude microstructurale de couches minces

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Diffraction X in-situ sous sollicitation dynamique : caractérisation cristallographique des transformations polymorphiques de l’étain / David PALMA DE BARROS  

Titre : Diffraction X in-situ sous sollicitation dynamique : caractérisation cristallographique des transformations polymorphiques de l’étain Type de document : thèse Auteurs : David PALMA DE BARROS, Auteur ; Thibaut de RESSÉGUIER, Directeur de thèse ; André DRAGON, Directeur de thèse ; Camille CHAUVIN, Directeur de thèse ; Institut PPRIME UPR CNRS 3346 - PMM, Commanditaire ; Alessandra BENUZZI-MOUNAIX, Rapporteur ; Pascal FORQUIN, Rapporteur ; Laurent BERTHE, Examinateur ; Raffaella TORCHIO, Examinateur ; Marcus KNUDSON, Examinateur ; Arnaud SOLLIER, Examinateur Importance : 228 p. Note générale : NNT 2021ESMA0015 Remerciements Table des matières Introduction Bibliographie Annexes Résumé Mots clés Catégories : Choc (mécanique) Cristallisation Diagrammes de phases Étain Interférométrie Macles (cristallographie) Matériaux:Essais dynamiques Monocristaux Polycristaux Polymorphisme (cristallographie) Rayonnement synchrotron Rayons X:Diffraction Recristallisation (métallurgie) Simulation par ordinateur Texture (cristallographie) Résumé : ÉTUDE BIBLIOGRAPHIQUE Données générales Étude du comportement en chargement statique Étude du comportement en chargement dynamique Bilan de l'étude bibliographique MOYENS EXPÉRIMENTAUX UTILISÉS Moyens utilisés au CEA Gramat Dynamic Compression Sector Bilan des moyens expérimentaux CONCEPTION D'UN OUTIL DE SIMULATION DES FIGURES DE DIFFRACTION Revue des logiciels de simulation existants Configuration du montage expérimental considéré Outil de dépouillement des figures pour matériaux monocristallins Outil de dépouillement des figures pour matériaux polycristallins Bilan sur l'élaboration de l'outil de simulation RÉSULTATS EXPÉRIMENTAUX Laboratoire CEA Gramat Dynamic Compression Sector Hypothèses de comportement Perspectives CONCLUSION GÉNÉRALE En ligne : https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-03613080

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EBSD : analyse par diffraction des électrons rétrodiffusés. Applications et techniques couplées / François BRISSET

Titre : EBSD : analyse par diffraction des électrons rétrodiffusés. Applications et techniques couplées Type de document : texte imprimé Auteurs : François BRISSET, Éditeur scientifique Editeur : EDP Sciences Année de publication : 2015 Importance : 308 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7598-1912-6 Note générale : Avant-propos Liste des acronymes Table des chapitres Références Langues : Français (fre) Catégories : Analyse EBSD Microscopes électroniques à balayage Rayons X:Diffraction Index. décimale : 681.4 Instruments d'optique : lunettes, télescopes, microscopes Résumé : Introduction à la diffraction des électrons rétrodiffusés EBSD : historique Caractérisation de la texture cristallographique, comparaison des techniques expérimentales de diffraction : rayons X, Neutrons et EBSD Préparation d’échantillons pour une caractérisation EBSD Analyse EBSD et échantillons isolants EBSD et bio-matériaux : l’exemple de la nacre Traction et recuit in-situ analysés par EBSD Couplage EBSD et essais mécaniques in-situ en MEB, méthode de glissement intergranulaire lors du fluage à 850°C d'un superalliage de base de nickel 3D EBSD Le couplage multiple en microscopie électronique à balayage : EBSD /EDS et RAMAN High angular resolution EBSD for measurement of strain and residual dislocation density Diffraction Kikuchi en Transmission dans le MEB La microdiffraction Kossel - Détermination des déformations et contraintes à l’échelle du micromètre

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Experimental Methods of Materials Research I / Herbert HERMAN

Titre : Experimental Methods of Materials Research I Type de document : texte imprimé Auteurs : Herbert HERMAN, Auteur Editeur : John Wiley & Sons, Inc. Année de publication : 1967 Importance : 316 p. Note générale : Preface to Volume I Contributors to Volume I Contents Author Index Subject Index Catégories : Matériaux:Essais Rayons X:Diffraction Science des matériaux Index. décimale : 669.95 Métallographie Résumé : X-Ray Diffraction Neutron Diffraction Electron Microscopy Field-Emission Microscopy Electron-Probe Microanalysis Applications of the Mössbauer Effect to Problems in Materials Science Anelastic Techniques : Iron, a Case History Low-Temperature Deformation Techniques Determination of the Stored Energy of Deformation of Metals and Alloys Some Experimental Aspects of Diffusion in Metals

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Influence de la mise en forme et des traitements thermiques sur le polyamide 11 / Vincent GAUDEFROY

Titre : Influence de la mise en forme et des traitements thermiques sur le polyamide 11 Type de document : thèse Auteurs : Vincent GAUDEFROY ; André RIVIERE, Directeur de thèse ; Laurence CHOCINSKI-ARNAULT, Directeur de thèse ; LMPM ENSMA UMR CNRS 6617, Commanditaire ; Roland SEGUELA, Rapporteur ; Bernard MONASSE, Rapporteur ; Jacques VERDU, Examinateur ; Jean-Louis GACOUGNOLLE, Examinateur ; Laurence CHOCINSKI-ARNAULT, Examinateur ; André RIVIERE, Examinateur ; Nicolas AMOUROUX, Examinateur Importance : 187 p. Note générale : Table des matières Introduction Conclusion générale Annexes Références bibliographiques Résumé/Abstract Mots clés Catégories : Calorimétrie Liaisons hydrogène Polyamides Polymères Polymorphisme (cristallographie) Rayons X Rayons X:Diffraction Traitement thermique Index. décimale : TH-03 Résumé : GENERALITES SUR LES POLYMERES ET LE POLYAMIDE 11 Polymères à l'état fondu Cristallisation Structure après cristallisation Structure et comportement de l'amorphe Structure cristalline du PA 11 Comportement mécanique du PA 11 à 25°C MATERIAUX TECHNIQUES DE CARACTERISATION Matériaux étudiés Séchage et traitements thermiques Techniques de caractérisation INFLUENCE DE LA MISE EN FORME SUR LE POLYAMIDE 11 Moulage par compression Extrusion CAST : comparaison avec le moulage par compression EFFETS DES RECUITS ENTRE Tg ET Tf Plaque moulée Film extrudé DISCUSSION Mesure du taux de cristallinité Origine supposée de la baisse du taux de cristallinité Passage de la phase "delta" ' à la phase "delta" Différences entre les recuits à T<150° C et à 180° C

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Quantitative X-Ray Diffractometry / ZEVIN, Lev., S.

Titre : Quantitative X-Ray Diffractometry Type de document : texte imprimé Auteurs : ZEVIN, Lev., S. ; Giora KIMMEL Editeur : Springer Verlag Année de publication : 1995 Importance : 372 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-387-94541-5 Note générale : Preface Acknowledgements Contents References Index Catégories : Rayons X Rayons X:Diffraction Rayons X:Diffraction:Applications industrielles Index. décimale : 539.72 Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques Résumé : Introduction Physical Basic Geometric Aspects of X-Ray Diffractometry Methodology of Quantitative Phase Analysis Practical Aspects of Quantitative Phase Analysis Industrial Applications

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Rayons X et matière : RX 2006 / Philippe GOUDEAU

Titre : Rayons X et matière : RX 2006 Type de document : symposium Auteurs : Philippe GOUDEAU, Marionnettiste ; René GUINEBRETIERE Editeur : Hermès Science Publications Année de publication : 2006 Importance : 298 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-1385-2 Note générale : Liste des auteurs Table des matières Préface Catégories : Rayons X Rayons X:Applications industrielles Rayons X:Diffraction Spectroscopie des rayons X Index. décimale : 539.72 Particules, rayons X, rayons gamma, rayons cosmiques Résumé : Systèmes optiques pour la définition du faisceau X Applications des différents types de détecteurs à la diffraction des rayons X pour l'analyse structurale des matériaux La diffraction résolue en temps : un outil indispensable pour déterminer les mécanismes des réactions auto-entretenues Diffraction des rayons X et analyse quantitative des phases. Applications in situ et sur site dans les industries de traitement des minerais Les contraintes résiduelles : d'où viennent-elles ? Comment les caractériser ? Evaluation des déformations induites par les contraintes thermiques dans des composants électroniques par diffraction des rayons X Etude des microstructures par diffusion de rayonnements Caractérisation microstructurale de poudres nanocristallines par diffraction des rayons X : Approches traditionnelles et modélisations Quelques exemples de diffraction des rayons X dans les polymères Etude par diffraction des rayons X de la microstructure de couches épitaxiées imparfaites

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Single Crystal Diffractometry / ARNDT, U., W.

Titre : Single Crystal Diffractometry Type de document : texte imprimé Auteurs : ARNDT, U., W. ; WILLIS, B., T., M. Editeur : Cambridge : Cambridge Univeristy Press Année de publication : 1966 Importance : 331 p. Note générale : Contents Preface Acknowledgements Appendix References Index Catégories : Cristallographie Rayons X Rayons X:Diffraction Réfractométrie Index. décimale : 548 Cristallographie

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The Interpretation of X-Ray Diffraction Photographs / HENRY, N., F., M.

Titre : The Interpretation of X-Ray Diffraction Photographs Type de document : texte imprimé Auteurs : HENRY, N., F., M. ; H. LIPSON ; WOOSTER, W., A. Editeur : Macmillan Publishing Company Année de publication : 1960 Importance : 282 p. Note générale : Preface Contents Note Appendixes Tables Subject Index References and Name Index Catégories : Rayons X Rayons X:Diffraction Traitement d'images Index. décimale : 548 Cristallographie

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B00003083	548 HEN	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	500 - Sciences - Mathématiques	Disponible

The Physical Examination of Metals / Bruce CHALMERS

Titre : The Physical Examination of Metals Type de document : texte imprimé Auteurs : Bruce CHALMERS, Auteur ; A. G. QUARRELL, Auteur Mention d'édition : Second edition Editeur : Edward Arnold (Publishers) Ltd Année de publication : 1960 Importance : 917 p. Note générale : Contents Preface Author Index Subject Index Catégories : Electrons:Diffraction Magnétisme Métallographie Métaux:Essais Rayons X:Diffraction Index. décimale : 669.95 Métallographie Résumé : Optical Methods Electriczl Measurements Thermal Methods Magnetic Analysis X-ray Diffraction Electron Diffraction Neutron Diffraction Electron Metallography Radiation Methods The Damping Capacity of Metals Measurements of Elastcicity using Mechanical Waves Ultrasonic Flaw Detection Ferrographic Method of Flaw Detection Magnetic Induction Methods of Non-destructive Testing Measurement of Coating Thickness by Magnetic Methods Radioactive Isotopes and Their Applications in Metal-Lurgy Microradiography and Autoradiography Modern Vacuum Techniques

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B00011159	669.95 CHA	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Disponible

Traité des matériaux : 3., Caractérisation expérimentale des matériaux vol. 2 / Jean-Luc MARTIN

Titre : Traité des matériaux : 3., Caractérisation expérimentale des matériaux vol. 2 Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Luc MARTIN ; Armand GEORGE Editeur : Presses Polytechniques et Universitaires Romandes (PPUR) Année de publication : 1998 Importance : 367 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-88074-364-2 Note générale : Présentation du Traité des matériaux Avant-propos Annexes Liste des symboles Index Biographie des auteurs Catégories : Electrons Electrons:Diffraction Electrons:Diffusion Matériaux Matériaux:Analyse Microanalyse par émission X Microstructure (physique) Neutrons Neutrons:Diffraction Neutrons:Diffusion Rayons X Rayons X:Diffraction Rayons X:Diffusion Index. décimale : 620.1 Mécanique de l'ingénieur (mécanique appliquée) et matériaux Résumé : PHYSIQUE DES INTERACTIONS RAYONNEMENT-MATIERE Généralités sur les interactions rayonnement-matière Diffusion cohérente des rayonnements par les cristaux Propagation d'ondes dans les cristaux CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR RAYONS X Sources de rayons X, conditionnement et analyse des rayons X Méthodes de caractérisation structurale par diffusion et diffraction des rayons X Topographie aux rayons X CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR FAISCEAUX D'ELECTRONS Microscope électronique à transmission Informations fournies par le microscope électronique à transmission Microscopeélectronique à balayage Microanalyse par faisceaux d'électrons CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR FAISCEAUX DE NEUTRONS Diffusion et diffraction des neutrons EXEMPLE DE CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR RAYONS X ET ELECTRONS Etude de la microstructure d'un revêtement réalisé par projection thermique

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B00006532	620.1 MAR	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Disponible
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X-Ray Scattering of Synthetic Polymers / BALTA-CALLEJA, F., J.

Titre : X-Ray Scattering of Synthetic Polymers Type de document : texte imprimé Auteurs : BALTA-CALLEJA, F., J. ; VONK, C., G. Editeur : Elsevier Science Publishers, Ltd Année de publication : 1989 Collection : Polymer Science Library num. 8 Importance : 317 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-0-444-87385-9 Note générale : Preface Contents Author Index Subject Index Catégories : Polymères Polymères:Analyse Radiocristallographie Rayons X Rayons X:Diffraction Index. décimale : 620.192 Polymères, plastiques Résumé : The theory of coherent X-ray scattering Experimental techniques Lattice constants Line breadth measurements : paracrystallinity The X-ray determination of the crystallinity in polymers The X-ray determination of the orientation in polymers The small-angle X-ray scattering of polymers

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B00004136	620.192 BAL	Ouvrage	BIBLIOTHÈQUE - ACCÈS LIBRE	600 - Sciences appliquées - Technologie	Sorti jusqu'au 15/05/2026

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